翌穎科技（上海）有限公司
<tfoot id="qqie6"></tfoot>
<ul id="qqie6"></ul> 翌穎科技（上海）有限公司
暫無信息 |
| 產地 | 國產 | 加工定制 | 是 |
|---|
F3-sX薄膜厚度測量儀
此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。而且僅在幾分之一秒內完成。
滿足薄膜厚度范圍從15nm到3mm的*厚度測試系統F3-sX薄膜厚度測量儀
F3-sX家族利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。而且僅在幾分之一秒內完成。
波長選配F3-sX薄膜厚度測量儀
F3-sX采用的是近紅外光（NIR）來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層（ 比如半導體膜層） 。980nm波長型號，F3-s980，專門針對低成本預算應用。F3-s1310針對于高參雜硅應用。F3-s1550則針對較厚膜層設計。
配件
配件包括自動繪圖平臺、測量點可視化的攝像機, 和可見光波段選項，使測量厚度能力小達到15納米。此外數據采集速率達到1kHz，讓F3-sX系列成為許多在線應用的*選擇（比如“roll-to-roll”工藝）。
翌穎科技(上海)有限公司主要為半導體、新能源企業和高校及研發中心提供各類精密進口制程及測量設備。提供全面的一對一*，技術支持，備件管理和咨詢服務。
UNICORN是翌穎科技（上海）有限公司旗下的品牌
旗下有測厚儀，臺階儀，納米壓痕儀，橢偏儀等等多種儀器。
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作，未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
