新款膜厚控制儀 返回列表頁

Cygnus 2 薄膜沉積控制器

為 OLED 應用提供*佳測量精度

Cygnus 2 薄膜沉積控制器在 INFICON 薄膜沉積控制器可靠成熟的性能基礎上，增添了更多的功能，可幫助您實現 OLED 過程的*大價值。Cygnus 2 使用我們 ModeLock 頻率測量系統，提供穩定、高分辨率的速率和厚度測量，速率分辨率可達每 1/10 秒 0.00433 ?/s，是行業中的。Cygnus 2 具有其他石英晶體控制器的性能、品質和功能，賦予您的過程**的可重復性。

功能

• INFICON ModeLock 技術確保獲得*高、*穩定的速率和厚度測量分辨率，即使在速率極低的情況下
• Auto Z 技術通過自動測定沉積材料的 Z 比值，可提高厚度測量的精度
• 一個 Cygnus 2 即可同時、單獨或以任何組合方式控制*多 6 個來源，無需使用兩個或三個控制器
• 彩色 TFT LCD 顯示屏使用戶很容易看到過程的進展狀況
• 10 Hz 測量
• 100ms 樣本速率下頻率范圍為 +/-0.0035 Hz
• USB 數據存儲功能可存儲屏幕截圖、配方存儲和數據記錄
• 多個源厚度合計功能
• 測量低密度、低速率材料的平均速率（使用穩定源的低速率 OLED 摻雜材料沉積*多 30 秒）
• 速率顯示分辨率可達0.001?
• 4 米 XIU 選件能夠在大型系統中使用較長的真空傳感器電纜
• 無沉積控制允許持續控制源，因為基片可以通過沉積室不斷循環
• 6 個標準 DAC 輸出和另外 6 個可選輸出用于來源控制、速率或厚度監控
• 可選以太網通信
• 符合 RoHS 標準