北京瑞輻特輻射測(cè)量?jī)x器有限公司
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<ul id="qqie6"></ul> 北京瑞輻特輻射測(cè)量?jī)x器有限公司
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更新時(shí)間：2021-07-21 15:12:40瀏覽次數(shù)：334次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)CTLD-100型 LiF:Mg,Ti熱釋光探測(cè)器
CTLD-100型
LiF:Mg,Ti熱釋光探測(cè)器
LiF:Mg,Ti探測(cè)器探測(cè)器具有衰退小、精確度高、量程范圍寬、組織等效性和能量響應(yīng)好等特點(diǎn)，可測(cè) Ｘ、γ、β 等射線，在核工業(yè)、醫(yī)療衛(wèi)生系統(tǒng)、地質(zhì)找礦和石油勘探等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。
主要?jiǎng)┝繉W(xué)持性
1、發(fā)光曲線：LiF;Mg,Ti探測(cè)器在300℃以下具有6個(gè)發(fā)光峰，一般將第5個(gè)峰作為劑量測(cè)定峰，峰值溫度為210℃左右。
2、衰退：≤5.6%/年（在常溫下儲(chǔ)存）；
3、均 勻 性: ≤±5%（和探測(cè)器的分散性有關(guān)）
3、線性范圍：10-4～3Gy；
4、重復(fù)性：LiF:Mg,Ti探測(cè)器的重復(fù)性符合國(guó)標(biāo)(GBl0264—88)要求，其重復(fù)使用性能隨使用次數(shù)的增加趨于更加穩(wěn)定，一般均在上百次以上；
5、長(zhǎng)期穩(wěn)定性：在環(huán)境溫度低于40℃的環(huán)境下，累積劑量信息的衰退在3-6個(gè)月內(nèi)可以忽賂不計(jì)，若環(huán)境溫度≥50℃時(shí)，則其劑量信息的衰退約為（3-5）％/月。
6、能量響應(yīng)：1.30（對(duì)30keV Ｘ射線與60Co γ射線的響應(yīng)比）；
7、光照效應(yīng)：對(duì)于室內(nèi)散射日光、白熾燈光、日光燈無(wú)明顯響應(yīng)，對(duì)于直射陽(yáng)光照射則有明顯響應(yīng)。
使用條件
探測(cè)器可采用熱風(fēng)加熱式讀出器測(cè)量，也可采用直接電加熱式(電阻帶式加熱盤(pán))讀出器測(cè)量；
退火：400℃,l小時(shí)、迅速冷卻后100℃，2小時(shí)退火；
測(cè)量：對(duì)于直接電加熱式讀出器，其測(cè)量條件加熱方式、參數(shù)等因素有關(guān)，直接電加熱式讀出器測(cè)量參數(shù)見(jiàn)下表。
直接電加熱式讀出器測(cè)量參數(shù)
測(cè)量方式 | 預(yù) 熱 | 測(cè) 量 | 加熱速率 (℃?s-1) | 備 注 | ||
溫度(℃) | 時(shí)間(s) | 溫度(℃) | 時(shí)間(s) | |||
線性 | - | - | 400 | 400 | 1 | 測(cè) 量 TL曲線 |
- | - | 400 | 200 | 2 | ||
兩階段程序 | 140 | 20 | 240 | 15-20 | 20 | |
一階段程序 | - | - | 240 | 15-20 | 20 | 測(cè)前低 溫退火 |
- | - | 270 | 15-20 | 20 | ||
表中參數(shù)僅供參考，建議用戶根據(jù)具體情況確定，其確定原則是使劑量測(cè)定峰*落在測(cè)量周期(測(cè)量上升和恒溫時(shí)間)內(nèi)，而測(cè)量周期要盡可能的短。
表中時(shí)間參數(shù)為上升、恒溫時(shí)間。
使用注意事項(xiàng)
1、探測(cè)器要存放在環(huán)境溫度、干燥（干燥瓶）的環(huán)境條件下保存，避免陽(yáng)光直射、有機(jī)氣氛的影響；
2、探測(cè)器退火時(shí)要嚴(yán)格控制退火條件，如有條件應(yīng)采用專用探測(cè)器退火冷卻爐，以保證探測(cè)器的性能；
3、采用直接電加熱式讀出器測(cè)量時(shí)，可在玻管探測(cè)器加熱盤(pán)兩端開(kāi)兩個(gè)孔，以保證探測(cè)器和加熱盤(pán)有良好的熱接觸。
4、退火時(shí)，應(yīng)在溫度達(dá)到設(shè)置的溫度后，再將裝有探測(cè)器的托盤(pán)放入退火爐中，放入托盤(pán)后爐溫會(huì)略有下降，當(dāng)其溫度達(dá)到設(shè)置的溫度時(shí)開(kāi)始計(jì)時(shí)；
5、探測(cè)器從爐中取出后，要放在冷卻冷卻板上冷卻（在濕度比較大時(shí)，冷卻時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)，以防受潮，一般控制在10幾秒）；
6、測(cè)量后應(yīng)將探測(cè)器放在金屬盒里或金屬板上；
7、要用清潔的鑷子輕取探測(cè)器，切勿用手接觸探測(cè)器，以免沾污。對(duì)污染的片狀探測(cè)器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)剔除，切勿用酒精棉球擦洗再用，清洗后可在以后探測(cè)器篩選時(shí)使用；
8、探測(cè)器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝；
9、放置探測(cè)器的器具要保持清潔，要用清潔的鑷子輕取探測(cè)器，切勿用手接觸探測(cè)器；
10、探測(cè)器在照射后和經(jīng)過(guò)熱處理后放在專用的熱釋光探測(cè)器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。
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