深圳市宇盛達儀器有限公司
CEM DT-157/157H集磁性和非磁性自動轉換測量于一體,是CEM設計、研發和推出的高精度、快速反應、多功能的涂鍍層測厚儀,帶藍牙和智能APP,其中DT-157H可分體探頭測量。
可測量磁性物質表面的非磁性涂鍍層測厚度 可測量非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度 可測量絕緣表面的非磁性金屬涂層厚度 易于操作的菜單設計 連續和單次測量方式 直接工作模式和組工作模式 可統計并顯示: 平均值、值、最小值、標準方差、統計數 可進行一點、兩點和基本校準 可保存2500個測量數據(50組數據) 實時刪除測量數據和組數據 低電和錯誤提示 一鍵式輕易歸零功能 紅寶石探頭 8級亮度調節大屏背光燈顯示屏 4.0低功耗藍牙傳輸 一體式和分體式二合一探頭測量方式(DT-157H) (注:產品、配件和詳細參數,請以實物為準)
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作,未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
請輸入你感興趣的產品
請簡單描述您的需求
請選擇省份