【儀表網(wǎng) 儀表標(biāo)準(zhǔn)】由中國(guó)材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)及設(shè)備領(lǐng)域委員會(huì)(CSTM/FC94)歸口承擔(dān)的《無(wú)損檢測(cè)紅外檢測(cè)渦流紅外熱成像檢測(cè)方法》團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)已完成征求意見稿，按照《中關(guān)村材料試驗(yàn)技術(shù)聯(lián)盟團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)管理辦法》的有關(guān)規(guī)定，現(xiàn)公開廣泛征求意見。
渦流熱成像技術(shù)是一種新型無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，它利用感應(yīng)渦流加熱被檢對(duì)象，用紅外相機(jī)成像獲得被檢對(duì)象表面的溫度分布圖像，從而獲得缺陷信息。
渦流熱成像檢測(cè)技術(shù)適用于導(dǎo)電材料(包括金屬和非金屬材料)的表面和亞表面缺陷檢測(cè)，包括裂紋、閉合缺陷、組織不均勻等的檢測(cè)。該檢測(cè)方法在經(jīng)歷了較長(zhǎng)一段時(shí)間的基礎(chǔ)理論研究后，目前其理論和技術(shù)日趨成熟，已得到一些應(yīng)用, 但尚無(wú)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)予以規(guī)范，需要通過標(biāo)準(zhǔn)的制定對(duì)檢測(cè)方法、設(shè)備以及人員進(jìn)行規(guī)范,促進(jìn)人才培養(yǎng)與產(chǎn)業(yè)發(fā)展。
本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)及設(shè)備領(lǐng)域委員會(huì)(CSTM/FC94)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)及設(shè)備領(lǐng)域委員會(huì)(CSTM/FC94)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：四川大學(xué)、愛德森(廈門)電子有限公司、中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院、電子科技大學(xué)、上海金藝檢測(cè)技術(shù)有限公司等。
本標(biāo)準(zhǔn)著重描述了渦流熱成像檢測(cè)的技術(shù)原理、測(cè)試設(shè)備、檢測(cè)方法與流程、參數(shù)設(shè)置、結(jié)果分析與數(shù)據(jù)處理。
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅所注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T 9445 無(wú)損檢測(cè) 人員資格鑒定與認(rèn)證；GB/T 12604.9 無(wú)損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 紅外檢測(cè)；GB/T 20737 無(wú)損檢測(cè) 通用術(shù)語(yǔ)和定義。
技術(shù)原理：
渦流紅外熱成像無(wú)損檢測(cè)的基本原理是基于電磁渦流效應(yīng)與焦耳定律。利用法拉第電磁感應(yīng)原理在導(dǎo)體材料內(nèi)部感應(yīng)出渦流并產(chǎn)生焦耳熱，當(dāng)被測(cè)樣品表面或亞表面存在缺陷時(shí)，被測(cè)體中的渦流場(chǎng)傳導(dǎo)路徑會(huì)發(fā)生改變，并造成焦耳熱分布不均，進(jìn)而影響材料表面的溫度場(chǎng)。這種由于焦耳熱分布不均引起的溫度場(chǎng)變化可以被紅外成像儀記錄，經(jīng)圖像處理和數(shù)據(jù)分析可獲得樣品的缺陷信息。
測(cè)試設(shè)備：
根據(jù)檢測(cè)系統(tǒng)原理和結(jié)構(gòu)，測(cè)試設(shè)備一般包括高頻電源、渦流發(fā)生器與激勵(lì)裝置、熱像儀、控制和圖像采集與分析計(jì)算機(jī)組成，也可以是包含前述模塊的具有相似功能的專用設(shè)備。
測(cè)試流程：
測(cè)試過程包括以下步驟：a)樣品預(yù)處理：參考第7節(jié)；b)布置激勵(lì)裝置：一方面需要使阻抗與電源匹配以扶得大功率輸出，另一方面應(yīng)盡量使感應(yīng)渦流方向垂直于潛在缺陷(裂紋)走向。如果難以預(yù)判缺陷(裂紋)走向，則可以使用旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)進(jìn)行激勵(lì)，或者進(jìn)行兩次渦流方向彼此垂直的測(cè)試；c)熱像儀準(zhǔn)備：適當(dāng)布置熱像儀以獲得較好的觀測(cè)角度，然后準(zhǔn)確對(duì)焦，執(zhí)行NUC；d)測(cè)試：施加脈沖激勵(lì)，熱像儀同步記錄數(shù)據(jù)；e)數(shù)據(jù)處理：計(jì)算渦流激勵(lì)引起的溫升圖或熱圖像序列；f)數(shù)據(jù)增強(qiáng)：由于激勵(lì)不均勻、發(fā)射率不均勻、樣品表面不平整等原因，測(cè)試結(jié)果中會(huì)包括很多與缺陷無(wú)關(guān)的異常熱斑，可通過數(shù)據(jù)增強(qiáng)算法改善顯示結(jié)果，增強(qiáng)缺陷顯示，抑制非相關(guān)顯示；g)結(jié)果顯示：選擇興趣區(qū)域，設(shè)定動(dòng)態(tài)范圍，將測(cè)試結(jié)果以偽彩顯示，供操作人員判定；h)結(jié)果的深度解讀：根據(jù)檢測(cè)要求，通過對(duì)熱圖像序列進(jìn)行進(jìn)一步的深度分析，確定缺陷的定量信息，如大小、深度等。
檢測(cè)報(bào)告：
檢測(cè)報(bào)告一般應(yīng)包括以下內(nèi)容： a) 檢測(cè)日期； b) 檢測(cè)人員； c) 待測(cè)樣品信息及檢測(cè)區(qū)域； d) 檢測(cè)環(huán)境條件(溫度、濕度)； e) 紅外熱像儀的相關(guān)信息； f) 渦流激勵(lì)的相關(guān)信息(激勵(lì)功率、激勵(lì)電流、頻率、激勵(lì)加熱時(shí)長(zhǎng)等)； g) 檢測(cè)工藝參數(shù)(紅外相機(jī)相對(duì)于檢測(cè)樣品的位置、距離等)； h) 檢測(cè)評(píng)價(jià)； i) 其他(未在以上提及但可能影響檢測(cè)結(jié)果的因素)。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了渦流紅外熱成像檢測(cè)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于導(dǎo)電材料，包括金屬和非金屬材料。本方法主要用于檢測(cè)表面與亞表面缺陷，包括裂紋、閉合缺陷、組織不均勻等，允許表面被油漆等覆蓋。
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