CETC(中電科) AV6362C 近紅外光譜儀
AV6362C近紅外光譜儀采用的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術研制而成。整機性能指標達到國際同類產品水平。適用于600～1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學濾波器、光纖放大器、波分復用器等光電子元器件及有關系統的測試。
功能特點
主要特點
● 0.05nm最小分辨帶寬
● -90 dBm電平測量靈敏度
● ndB損耗分析
● 包絡分析
● 測試數據存儲輸出
● 激光光源測試
● 光學濾波器測試
0.05nm最小分辨帶寬
AV6362C近紅外光譜儀支持不同光譜分辨帶寬的設置，寬譜光源與窄譜線光源測試靈活切換。并且最小分辨帶寬可達0.05nm。
-90 dBm電平測量靈敏度
通過低噪聲放大、雜散光抑制、數字濾波等技術，極大地降低了儀器噪聲，提高了信噪比，電平測量靈敏度在1250nm～1600nm波段優于－90dBm。
ndB損耗分析
產品具有強大的分析功能，快速分析光譜參數，儀器自身就能完成復雜的計算。分析功能包括波峰檢索、閾值分析、損耗分析、邊模分析、包絡分析、均方根和光功率分析等，滿足您的全部需求。
包絡分析
測試數據存儲輸出
光譜測試數據可用.bmp或.osd格式文件存儲和輸出。
激光光源測試
儀器可以對多類型激光器進行一鍵測試與分析，實現所有測試項目批處理。
光學濾波器測試
除了半導體激光光源（DFB-LD、FP-LD、LED）光譜測量應用外，儀器還集成了光纖偏振模色散測量應用、波分復用應用、光纖放大器應用、LD模塊應用、波分復用濾波器應用、波分復用光纖放大器應用等光譜應用功能。
典型應用
LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析
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