CETC(中電科) AV6362光譜分析儀
產品綜述
AV6362光譜分析儀采用世界上的雙通光柵單色儀、高分辨率直接驅動衍射光柵、光學楔形延遲消偏振、數字濾波等技術研制而成。整機性能指標達到國際同類產品水平。適用于600～1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學濾波器、光纖放大器、波分復用器等光電子元器件及有關系統的測試。
主要特點
● 70dB動態范圍
● -90dBm電平測量靈敏度
● PMD測試
● WDM測試
● 測試數據存儲輸出
● 跟蹤可調諧激光源測量
● 調制光測量
●高動態范圍
AV6362型光譜分析儀具有高動態范圍測試模式，在此模式下，距峰值波長±1nm范圍內，動態范圍可達70dB。
●-90dBm電平測量靈敏度
通過低噪聲放大、雜散光抑制、數字濾波等技術，極大地降低了儀器噪聲，提高了信噪比，電平測量靈敏度在1250nm～1600nm波段優于－90dBm。
●自動PMD測試
●WDM測試
WDM測量分析信噪比(SNR)，各個波峰之間的波長間隔、電平差異等重要參數。最多可以檢測到300個波峰。
●測試數據存儲輸出
光譜測試數據可用.bmp或.txt格式文件存儲和輸出。
●跟蹤可調諧激光源測量
儀器可以對可調諧光源進行跟蹤測量。跟蹤測量和可調諧光源的波長輸出由光譜分析儀控制。發送波長端(可調諧光源)和接收端(光譜分析儀)可以進行同步測量。
●調制光測量
調制光測量可用于監測調制光。通過輸入一個與調制信號同步的外部觸發信號，可以測量調制光。
典型應用
LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析
