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公司介紹主營產品

*代理美國 Thermo、日本 SEIKO 及韓國 Micro Pioneer的 X-射線測厚儀。此儀器主要應用于線路板的鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適用于對微細表面積或超薄鍍層的測量。此外，針對PCB線路板生產的不同工序，我司亦有以下不同產品可供選擇：1 韓國Micro Pioneer X-射線測厚儀1 美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀1 美國禾威(WALCHEM)電鍍藥液自動添加系統1 日本SEIKO(SII)X射線螢光測厚儀及元素分析儀1 日本KETT手提式渦流 / 磁感測試儀1 美國CECO PCB基材測試系統1 美國ECI電鍍藥液分析系統1 美國UNITRON工業用顯微鏡系統及表面光滑度測試儀1 美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品1 德國SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品1 德國WTW實驗室 / 工業用水質檢查系統1 美國DeltaTRAK溫度測試儀器多年來，我們一直致力于為半導體生產行業，PCB 廠商及一般電鍍業等行業提供優質服務，讓客戶滿意，為客戶較大限度創造價值是我們始終堅持的目標，因為我們相信，客戶的需要就是我們前進的動力。德國SCAN-DIA半自動研磨機德國SCAN-DIA微型低速切片機美國EXTECH金相切片機美國EXTECH研磨機美國EXTECH雙盤研磨機美國EXTECH自動研磨機取樣切割碟鉆石磨光膏,粉,劑水晶膠凝膠杯沙紙&絨布樣品夾微型*微型真空抽氣泵金相切片測量套裝金相測量軟件美國UNITRON高級金相顯微鏡美國UNITRON直立式金相顯微鏡美國UNITRON倒立式金相顯微鏡德國 Roentgenanalytik X射線熒光測厚儀

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產品簡介在線詢價

手提式伊諾斯有害金屬分析儀是一種可以快速，便捷分析出以上有害元素的儀器。使用一臺伊諾斯可以同時檢定出以上5種及更多的有害元素。檢測限度*ROHS法令要求。

有害金屬分析儀產品詳情

手提式伊諾斯有害金屬分析儀是一種可以快速，便捷分析出以上有害元素的儀器。使用一臺伊諾斯有害金屬分析儀可以同時檢定出以上5種及更多的有害元素。檢測限度*ROHS法令要求，重量僅1公斤。并且同時具有無損，快速（測量時間在30秒到300秒，可由用戶自行設定），不需要取樣等優點。

手提式伊諾斯在進行檢測方面應用具有：

快速，直觀：通常使用120秒的檢測時間就可達到ROHS法令的要求
無損不破壞：由于采用X熒光能量色散原理，不需要取樣及破壞待測樣品
使用成本低: 其價格僅為臺式XRF檢測儀的50%，并且不需要專門使用專業檢測人員，

普通QA員工經過1天左右培訓后就能熟練操作該儀器。

異型的zui低檢測能力
Cd	20ppm
Pb，Hg	6ppm
Br	5ppm
Cr	20ppm
Sb	45ppm

關鍵詞：金屬分析儀

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