手持貴金屬分析儀的基本工作原理解析

來源：贏洲科技（上海）有限公司 2024年11月27日 11:02

　　手持貴金屬分析儀是一種用于快速、無損地檢測(cè)貴金屬成分的便捷工具，廣泛應(yīng)用于珠寶鑒定、貴金屬回收、礦產(chǎn)勘探、金屬檢測(cè)等領(lǐng)域。其基本工作原理主要基于幾種分析技術(shù)，包括X射線熒光分析、光譜分析等。下面將詳細(xì)介紹其工作原理。

　　X射線熒光分析技術(shù)是手持貴金屬分析儀常用的分析方法。其基本原理是利用物質(zhì)對(duì)X射線的吸收和發(fā)射特性來確定其成分。具體來說，XRF分析利用了以下步驟：

　　1、激發(fā)過程：當(dāng)儀器發(fā)射出高能X射線束照射到待測(cè)物質(zhì)表面時(shí)，樣品中的原子會(huì)吸收一部分X射線能量，并進(jìn)入激發(fā)狀態(tài)。激發(fā)態(tài)的原子會(huì)釋放能量，這時(shí)會(huì)發(fā)生“熒光”現(xiàn)象，產(chǎn)生一定能量的二次X射線。

　　2、熒光輻射與元素特征：不同的元素有不同的能級(jí)結(jié)構(gòu)和電子排布，因此它們發(fā)射的X射線熒光的能量和波長(zhǎng)是不同的。貴金屬如金、銀、鉑、鈀等元素，發(fā)射的熒光X射線具有的特征峰，通過測(cè)量這些特征峰的能量和強(qiáng)度，可以準(zhǔn)確識(shí)別和定量貴金屬的成分。

　　3、分析與數(shù)據(jù)處理：當(dāng)儀器檢測(cè)到樣品發(fā)射出的熒光X射線時(shí)，儀器的探測(cè)器會(huì)根據(jù)每個(gè)元素的特征熒光能量，利用內(nèi)置的數(shù)據(jù)庫進(jìn)行比對(duì)。通過比較不同元素的熒光強(qiáng)度，儀器能夠計(jì)算出樣品中各種元素的濃度比例，從而得出貴金屬的具體成分。儀器通常會(huì)顯示出成分的百分比，精確到千分之一。

　　除了X射線熒光分析，某些手持貴金屬分析儀還采用光譜分析技術(shù)來分析金屬的成分。光譜分析基于每種元素在特定條件下能夠吸收或發(fā)射不同波長(zhǎng)的光這一特性。當(dāng)樣品被激發(fā)時(shí)，金屬中的電子會(huì)被激發(fā)到高能態(tài)，并從高能態(tài)返回到低能態(tài)時(shí)，釋放特定波長(zhǎng)的光。

　　手持貴金屬分析儀基于X射線熒光技術(shù)的工作原理，通過激發(fā)金屬原子發(fā)射特征的熒光X射線，進(jìn)而分析和定量貴金屬的成分。它具有快速、無損、便捷的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于珠寶鑒定、貴金屬回收等行業(yè)。

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