BGA、CSP評估測試專用 絕緣電阻測試系統主要用于：
1、離子遷移測試評估
2、絕緣電阻性能劣化測試評估；
3、印制電路板、助焊劑、光刻膠、焊錫、封裝樹脂、各向異性傳導薄膜等電路板、高密度連接電路板用電子組裝材料
4、BGA、CSP等微間距圖形IC 封裝。
CSP.CSP 評估測試用 絕緣電阻測試系統概要：
1.印刷電路板通孔導通評估
2.BGA、CSP焊料連接性評估
3.焊料連接性評估
4.FPC耐用性評估
5.導電粘性結劑、異方性導電膜(ACF)結合評估
BGA、CSP 評估測試用 絕緣電阻測試系統特點：
BGA、CSP 評估測試用 絕緣電阻測試系統特點：
1.高精度連續測試絕緣電阻變化
在高溫高濕環境下對測試樣品加載電壓信號，精確的測量絕緣電阻的微小變化
2.靈活的多通道分組測試
本系統可根據測試樣品不同規格的測試要求，將多通道進行分組測試，可使測試系統同時在一個或多個試驗箱體內分別加載不同的測試電壓和偏置電壓
3.可實現遠程監控、在線控制、數據實時上拋等線上功能
BGA、CSP 評估測試用 絕緣電阻測試系統參數：
類型 | 100V | 500V | 1000V | 1500V | 2000V |
測試通道數 | 20~30CH | 20~30CH | 20~30CH | 20~30CH | 20~30CH |
測試組數 | 2~4組 | 2~4組 | 2~4組 | 2~4組 | 2~4組 |
工作時間 | 0~9999小時 | 0~9999小時 | 0~9999小時 | 0~9999小時 | 0~9999小時 |
偏置電壓 | 1-100VDC | 1-500VDC | 1-1000VDC | 1-1500VDC | 1-2000VDC |
測試電壓 | 1-100VDC | 1-500VDC | 1-1000VDC | 1-1500VDC | 1-2000VDC |
電阻測試范圍 | 1x10?-1x1013 Ω （測試電壓100V) | 1x10?-1x1013 Ω （測試電壓100V) | 1x10?-1x1013 Ω （測試電壓100V) | 1x10?-1x1013 Ω （測試電壓100V) | 1x10?-1x1013 Ω （測試電壓100V) |
測試電壓穩定時間 | 1-600 | 1-600 | 1-600 | 1-600 | 1-600 |
斷開測試電壓的高阻閥值 | 10?-10?Ω | 10?-10?Ω | 10?-10?Ω | 10?-10?Ω | 10?-10?Ω |
