EDX 4500H X熒光光譜儀是一款專門用來檢測成分的儀器，礦粉，爐渣，不銹鋼成分，陶瓷成分，鑄造物件等，利用低能X光激發待測元素，對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率：采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。
產品型號：EDX 4500H；
產品名稱：X熒光光譜儀；
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）；
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）；
同時分析元素：一次性可測幾十種元素；
測量時間：60秒-200秒；
探測器能量分辨率為：145±5eV；
管壓：5KV-50KV；
管流：50μA-1000μA；
測量對象狀態：粉末、固體、液體；
輸入電壓：AC 110V/220V；
環境溫度：15℃-30℃；
環境濕度：35%-70%；
外形尺寸：660mm×510mm×350mm；
樣品腔體積：Φ320mm×100mm；
重量：65Kg。
高效超薄窗X光管；
數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好；
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比；
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好；
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍；
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元；
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣；
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度；
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；
內置高清晰攝像頭；
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然。
鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）、測試高爐渣、生鐵、燒結礦、球團礦、白云石、膨潤土、石灰石、普硅等，還可以廣泛應用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。
