一 、功能與結構特征概述
基本功能：SZT-H型金屬質量電阻率測試臺 配以四探針儀器構成成套測試系統，是運用四端子測量原理的專業測量金屬箔類（質量）電阻率/方阻的多用途綜合測量裝置。（以下簡稱測試臺）
基本組成：測試臺測試電極組、升降臺、支架、連接線纜等部件組成。
配套與兼容：本測試臺兼容本公司所有臺式四探針測試儀器。本測試臺可兼容國內同行絕大多數四探針電阻率/方阻測試儀器。
優勢特征：SZT-H質量電阻率測試臺符合國標《GB/T 5230-1995》中對金屬箔類質量電阻率測試要求，測試電極采用銅質刀架制成，故定位準確、游移率小、接觸良好；測試結果由數字表頭直接顯示。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、測量簡便等特點。
儀器適用于金屬薄膜材料廠、半導體薄膜材料廠、橡塑材料廠、電容器廠、科研單位、高等院校等對半導體或金屬薄膜材料的方阻、電阻率性能的測試。特別適用于要求快速測量中低方阻及要求結果分選的場合。
二、技術參數(配ST2258A型多功能數字式四探針測試儀)
2.1 測量范圍、分辨率（有所配儀器決定）
（1）方阻測試范圍*（以配SZT-H測試臺為例）
測量膜寬：1mm≤B≤50mm
基本方阻測量值：1.0×10-6 ～1.2×103 Ω/□，分辨率：1.0×10-7 ～1.0×100 Ω/□。
具體膜寬w與測量范圍關系見圖2-1A。
（2）電阻率測試范圍（以配SZT-H測試臺為例）
（厚度d<10mm,寬w<50mm）
基本電阻率測量值： 1.0×10-6 ～ 1.2×103 Ω*cm，分辨率：1.0×10-7 ～ 1.0×100 Ω*cm。
具體截面s與測量范圍關系見圖2-1B。
2.2 SZT-H測試刀架：
⑴電壓刀片間距：150mm±0.2% ，刀刃長60mm
⑵電流刀片間距： 300mm，刀刃長60mm
⑶測試臺架外型尺寸：360×200×240（長×寬×高）
三、詳情請登陸蘇州晶格電子有限公司網站.cn
查看《SZT-H金屬質量電阻率測試臺技術使用說明書》
