SZT-C型四探針測試臺
操作使用說明書
一 、功能與結構特征概述
基本功能：SZT-C型四探針測試臺，是用來裝夾四探針探頭，連接四探針測試儀器，放置樣品，進行手動方式測試的機具。是四探針法測試電阻率/方塊電阻（方阻）儀器的配套測量裝置（以下簡稱測試臺）。
基本組成：主要有載物臺(180mmX180mm凈載物面積)、雙軌垂直導向單元、測試壓力調節單元、探頭快速升降扳手(頂部戴紅套部分)、探頭連接板等單元。
配套與兼容：本測試臺可選配本公司所有型號的四探針測試探頭，包括鎢針四探針探頭（測試硬質樣品用），鍍金合金探頭（測試柔性薄膜或涂層方阻專用）；本測試臺兼容本公司所有四探針測試儀器。本測試臺加配本公司探頭，可兼容國內同行絕大多數四探針電阻率/方阻測試儀器。
二、可測半導體材料尺寸 （探頭手持方式不限）
直徑或邊長:SZT-C測試臺直接測試方式 Φ15～180mm，或180mm×180mm。
長(或高)度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
測量方位： 軸向、徑向均可
三 、使用方法
五、：/ 丁先生
