8425霍爾效應及低溫探針臺集成系統
● 在真空探針臺下進行完整的霍爾效應測試的系統
● 支持一系列直流條件下霍爾效應測試
● 磁場2T,電阻范圍0.5mΩ-100GΩ
● 變溫范圍10k-400k，采用閉循環制冷機制冷，不需要消耗制冷劑
● 包含8400軟件，可以做簡單的系統操作、數據采集和分析
● 支持多載流子分析數據導出
晶片級材料在嚴格控制的低溫環境下的無損霍爾測量
*材料的研究
具備Lake shore*霍爾測量能力的8425是應用物理、電氣工程、材料研究、產品研發與運用的理想工具，它可以測量新材料的電子和磁運輸特性，包括：
太陽能電池 OPVs, a:Si, μc-Si, CdTe, CuInGaSe (CIGS)
有機電子 OTFTs, Penactene, Chalcogenides,OLEDs
Ⅲ-Ⅴ族半導體 InP, InSb, InAs, GaN, GaP, GaSb, 基于AIN的設備，HEMTs, 異質結雙極晶體管
Ⅱ-Ⅳ族半導體 CdS, CdSe, ZnS, ZnSe, ZnTe, HgCdTe
元素半導體 Ge, SOI, SiC, HBTs and FETs
高溫超導體
直接或間接測量的磁場和溫度函數
霍爾電壓
Ⅳ曲線的測量
電阻
磁阻
磁傳輸
霍爾系數
霍爾遷移率
反常霍爾效應
載流子類型/濃度/密度
