為精密科學而生，為人性設計而生 |
■ 無需再磁場翻轉
■ 可匹配類型的磁環境
■ 測量速度是目前業內常規霍爾的100倍
■ 理想的超低遷移率材料的測試設備
理想的低遷移率霍爾測試儀 |
霍爾效應測量是表征新型電子材料和器件的傳輸特性的關鍵。目前科研人員常規使用傳統的DC場方法進行，只需要穩定的電流源，電壓表，開關和磁環境，并且對于具有較高遷移率的較簡單材料而言其測量數據相對簡單且可靠。然而，隨著科研和材料的發展，目前越來越多的材料的遷移率開始越來越低，其測試變得更加困難，測量數據也變得很糟糕，如重復性很差，霍爾電壓與理論值偏差異常大，P/N結判斷錯誤等等。特別是對于現在的各類新型半導體材料，如光伏、熱電和有機物方面的材料。
在過去的幾年中，對于低遷材料的解決辦法就是使用AC磁場技術屏蔽干擾電壓和提取較小的霍爾電壓信號，其測試數據雖然可靠，但是其中測量窗口的延長，同時也意味著熱漂移誤差的不全部去除。但延長的測量間隔也會增加熱漂移效應的新形式誤差。隨著技術的發展，現在已有一款更快速的霍爾測量儀來替代之前“漫長”AC測試，使得您可以輕松實現低遷材料的測試，您還在等什么呢？
快速霍爾技術就是為了可以在幾秒鐘之內完成對于低遷移率材料的精準測量，*消除因為測試窗口的延長引起的熱漂移誤差。
| M91 快速霍爾測量儀特點 |
■ 支持范德堡和霍爾巴測試
■ 支持傳統DC霍爾測量
■ 支持Step-By-Step操作，實現您想要的測試
■ 無需再進行磁場反轉
■ 無需AC磁場霍爾測量
■ 自動優化激勵量程和測量量程
■ 遷移率支持到0.001cm2/Vs
■ 高阻選件允許測量樣品阻值 10MΩ to 200GΩ
■ 從干擾測量參數中提取有效測試數據
■ 可與簡易SCPI命令界面或MeasureLINK-MCS軟件配合使用
■ 用于簡化集成和數據傳輸的數字和
■ 模擬I/O
