一、可程試高低溫測試設備簡介:
可程式高低溫試驗箱廣泛適用于電工、電子產品、元器件、零部件及其材料在高低溫環境下儲存、運輸和使用時的適應性試驗，以及溫度漸變試驗。還可以對電子元器件進行應力篩選試驗。
二、可程試高低溫測試設備技術參數：
型號 | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
內箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
溫度范圍 | -70-+100℃（150℃） （A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃） | ||||||
溫度解析度/均勻度 | 0.01℃ ±1℃ | ||||||
溫度控制精度/波動度 | ±1℃ ±0.5℃ | ||||||
升溫/降溫時間 | 約3℃/min 約1℃/min （其他條件可定制） | ||||||
電源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60HZ | ||||||
三、滿足標準：
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
3. GJB150.3A－2009 高溫試驗方法
4. GJB150.4A－2009 低溫試驗方法
5. GB2423.22-2008電工電子產品環境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Nb：規定溫度變化速率的溫度變化
6. GBT 2424.5-2006 電工電子產品環境試驗 溫度試驗箱性能確認
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
四、箱特點：
1、高質感外觀，箱體結構。制冷系統、控制技術均做較大改進，技術指標更穩定，運行更可靠，維修更方便。
2、真空雙層玻璃：大視窗設計，窗口有防汗電熱器裝置，可防止水氣凝結水滴，及高亮度照明。
3、控制器采用進口LED顯示屏，可同時顯示測定值及設定值、時間等。
4、可與電腦連接USB/RS232接口，可將溫度濕度 曲線數據*記錄
5、程序循環：全部循環回，部分循環、
