一、可程式高低溫檢驗(yàn)測試機(jī)技術(shù)參數(shù)
型號 | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
內(nèi)箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
溫度范圍 | -70-+100℃（150℃） （A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃） | ||||||
溫度解析度/均勻度 | 0.01℃ ±1℃ | ||||||
溫度控制精度/波動(dòng)度 | ±1℃ ±0.5℃ | ||||||
升溫/降溫時(shí)間 | 約3℃/min 約1℃/min （其他條件可定制） | ||||||
電源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60HZ | ||||||
二、可程式高低溫檢驗(yàn)測試機(jī)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
3. GJB150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法
4. GJB150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法
5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
三、高低溫試驗(yàn)箱程序及控制功能：
可使用的程序量:大120組,1個(gè)程序可由1~99段次組合而成可使用記憶容量: 1200段 ，可重復(fù)執(zhí)行命令:每一個(gè)命令可達(dá)999次，程序斜率設(shè)定可由時(shí)間軸來設(shè)定，程序間可設(shè)定聯(lián)結(jié)使用，程序之制作采對談式操作簡單，具有編輯,清除,插入等功能，4組時(shí)間信號輸出控制(可控制待測物ON/OFF動(dòng)作)，具有9組PID參數(shù)設(shè)定，程序執(zhí)行中具有跳段,保持功能，可顯示曲線,資料獲取；日期、時(shí)間調(diào)整功能；按鍵及畫面鎖定(LOCK)功能，可連接計(jì)算機(jī)使用，8點(diǎn)DI異常輸入及10點(diǎn)DO信號控制
該系列產(chǎn)品適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、
產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏丨h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指針及質(zhì)量管理之用
