高溫X-射線衍射 高溫X-射線衍射

高溫X-射線衍射
德國 Edmund Buhler公司提供 HDK衍射腔，用于高溫或低溫 X射線衍射測量，可控高壓和高真空度。
Buehler x-射線衍射腔適用于所有類型的商業測角儀， θ – θ或 θ - 2θ。

典型應用
☆ 晶格常數與溫度的關系
☆ 檢測和表征高溫或低溫相態
☆ 結構相變：晶態到晶態，非晶態到晶態，或晶態到液態
☆ 涉及固氣相互作用化學反應的結構變化

衍射原理 草酸鈣轉變為草酸氧化鈣 無定形金屬轉變為結晶態 (360°C)

高溫高壓衍射腔 HDK HD 60/S
☆ 溫度高達 800℃，壓力高達 60巴
☆ 惰性氣體操作環境：氮氣，一氧化碳，二氧化碳，空氣
☆ 鈹窗：-5 °<2θ<75 °和 105 °<2θ<185 °
☆ 樣本垂直調整裝置：范圍＋ 1 / -9毫米
☆ 小石英窗口供樣本觀察
☆ 簡化的 HDK 20 / S 型（*高 600℃; *大 20巴）

HDK HD 60/S 技術參數

*高溫度和壓力 :1400 ° C—1巴：900 °C—20巴; 600 °C—60巴
氣體條件： 惰性氣體，氮氣，一氧化碳，二氧化碳，空氣
安全要素： 冷卻水流量控制
底板溫度傳感器，超高溫時斷電
安全閥門，過壓情況時斷電
超壓閥，70巴時打開

高低溫衍射腔 HDK S1

☆ 在特定氣體（如惰性氣體，氮氣，空氣，氧化混合物，壓力高達 1巴）或在高真空度（低至 10-6毫巴） 條件下運行
☆ 樣品載體熱膨脹自動補償功能
☆ 樣品調整裝置：樣品垂直調整范圍＋ 1／-9毫米
☆ 溫度范圍：環境溫度 1600°C（標準） ; - 185°C～+ 400°C（低溫選配）
☆ 衍射腔冷卻：腔體采用空氣冷卻 ;基座和電極采用水冷
☆ 可選：鍍鎳黃銅腔體（抗侵蝕性氣體或樣品）

配件

☆ HDK S1前板可拆卸 , 方便安裝低溫選項
☆ 冷階段：液氮冷卻和特殊加熱絲輻射加熱鍍金銅塊
☆ 溫度控制：采用 NiCrNi（K型）熱電偶

技術參數

溫度范圍：從室溫到 1600°C（標準） ; - 185°C ~ + 400°C（低溫選項）
氣體條件：高真空，惰性氣體，氮氣，空氣，氧化混合物
x-射線窗：聚酰亞胺箔 (Capton foil,標準)，0°≤2θ≤180°
鈹窗（選項）0°≤2θ≤180°

高溫衍射腔 HDK 1.4 / 2.4

☆ HDK 1.4 / 2.4分別高達 1800°C / 2400°C
☆ 在特定氣體（如惰性氣體，氮氣，空氣，氧化混合物，壓力高達 2巴）或在高真空度（低至 10-6毫巴）條件下運行
☆ x-射線窗口：鈹，≈210°; 寬度 12毫米/ 0°≤2θ≤180°
☆ 樣品調整裝置：樣品垂直調整范圍＋ 1／-9毫米
☆ 小石英窗口：觀察樣品和 /或溫度測量
☆ HDK2.4配有額外的熱盾（隔熱板）和一個環繞加熱器，提供*運行溫度
☆ 可升級 HDK 1.4至 2.4 (通過增加環繞加熱器和不同熱盾（隔熱板）)
☆ 樣品載體熱膨脹的自動補償
☆ 選項：旋轉樣品架（通過特殊環繞加熱器加熱到 1400　C操作溫度)

技術參數

配件
HDK 2.4 旋轉樣品架
通過特殊環繞加熱器加熱可高達 1400°C操作溫度