HUSTEC華科智源
HUSTEC-1600A-MT
IGBT靜態參數綜合特性測試儀
資料介紹
HUSTEC-1600A-MT
大功率半導體測試系統華科智源
測試參數：
ICES 集電極-發射極漏電流
IGESF 正向柵極漏電流
IGESR 反向柵極漏電流
BVCES 集電極-發射極擊穿電壓
VGETH 柵極-發射極閾值電壓
VCESAT 集電極-發射極飽和電壓
ICON 通態電極電流
VGEON 通態柵極電壓
VF 二極管正向導通壓降
整個測試過程自動完成，電腦軟件攜帶數據庫管理查詢功能，可生成測試曲線，方便操作使用。
二：HUSTEC-1200A-MT大功率半導體測試系統華科智源應用范圍
A：IGBT單管及模塊，
B：大功率場效應管（Mosfet）
C：大功率二極管
D：標準低阻值電阻
E：軌道交通，風力發電，新能源汽車，變頻器，焊機等行業篩選以及在線故障檢測
華科智源IGBT測試儀系統特征：
A：測量多種IGBT、MOS管
B：大脈沖電流1200A，電壓5KV，測試范圍廣；
C：脈沖寬度 50uS~300uS
D：Vce測量精度2mV
E：Vce測量范圍>10V
F：電腦圖形顯示界面
G：智能保護被測量器件
H：上位機攜帶數據庫功能
I：MOS IGBT內部二極管壓降
J : 一次測試IGBT全部靜態參數
K: 生成測試曲線（IV曲線直觀看到IGBT特性，可以做失效分析以及故障定位）
L:可以進行不同曲線的對比，觀測同一批次產品的曲線狀態，或者不同廠家同一規格參數的曲線對比；
序號 | 測試項目 | 描述 | 測量范圍 | 分辨率 | 精度 |
1 | VF | 二極管正向導通壓降 | 0~20V | 1mV | ±1%,±1mV |
2 | IF | 二極管正向導通電流 | 0~1200A | ≤200A時,0.1A | ≤200A時,±1%±0.1A |
3 | ＞200A時,1A | ＞200A時,±1% | |||
4 | Vces | 集電極-發射極電壓 | 0~5000V | 1V | ±1%,±1V |
5 | Ic | 通態集電極電流 | 0~1200A | ≤200A時,0.1A | ≤200A時,±1%±0.1A |
6 | ＞200A時,1A | ＞200A時,±1% | |||
7 | Ices | 集電極-發射極漏電流 | 0~50mA | 1nA | ±1%,±10μA |
8 | Vgeth | 柵極-發射極閾值電壓 | 0~20V | 1mV | ±1%,±1mV |
9 | Vcesat | 集電極-發射極飽和電壓 | 0~20V | 1mV | ±1%,±1mV |
10 | Igesf | 正向柵極漏電流 | 0~10uA | 1nA | ±2%,±1nA |
11 | Igesr | 反向柵極漏電流 | |||
12 | Vges | 柵極發射極電壓 | 0~40V | 1mV | ±1%,±1mV |
華科智源IGBT測試儀針對 IGBT 的各種靜態參數而研制的智能測試系統；自動化程度高（按照操作人員設定的程序自動工作），計算機可以記錄測試結果，測試結果可轉化為文本格式存儲，測試方法靈活（可測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試），安全穩定（對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖），具有安全保護功能，測試速度方便快捷。
