HUSTEC-5000 半導體分立器件測試系統 華科智源-電子/半導體檢測儀器

半導體分立器件測試系統是華科智源推出的一款的大功率半導體分立器件和功率半導體模塊測試系統。

本系統適合各大研究所做元器件檢驗以及在線開發器件做生產測試。系統可擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流的測試能力和增加測試品種范圍。自動快速測試可以滿足用戶大生產需要，故障率低也保證了用戶的生產效率。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試參數即可完成填表編程，操作人員不需具備專業計算機編程語言知識，使用簡捷方便。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證各種情況下測試結果的準確可靠。

系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

半導體分立器件測試系統基本配置  

   1、主極電壓： 0---2000V

   2、電壓分辨率：1mV  

   3、主極電流： 0---50A。

      可擴展到：100A,200A,400A ，500,600A,800A,1000A，1300A。

   4、電流分辨率：1nA   可擴展為10pA 

   5、測試精度：0.2%+2LSB

   6、測試速度：0.5MS/參數

系統測試功能

半導體分立器件測試儀是專為測試半導體分立器件和大功率半導體模塊器件而研發設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下類型的半導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列： 

  注：部分測試器件需要適配器。