TEM 日本200kV場發射透射電子顯微鏡
儀器簡介：
JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。
儀器簡介：TEM 日本200kV場發射透射電子顯微鏡
JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。
TEM 日本200kV場發射透射電子顯微鏡
利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。
高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。
JEM-2100F設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。
SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實現一體化控制。
技術參數：
1.點分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm
廣州市哲博檢測技術有限公司是由國家科研院所改制而成的綜合性檢測中心，本中心提供各類物質分析測試、危廢檢測、二惡英檢測、成分剖析、配方還原、工業逆向診斷、工業異物分析、材料改性研發、技術咨詢服務等。
本中心與華南地區多家科研院所單位建立了戰略合作伙伴關系，與多家企業共建起產學研聯盟；集研發、生產、銷售為一體的綜合性科技服務平臺。是一支在化工、材料、環境相關領域的檢測、分析儀器設備的高水平專業人才隊伍。
作為以化學分析測試的第三方分析測試機構，能全面開展涵蓋各個行業領域的理化分析測試，也是國內開展未知物成份剖析和結構鑒定方面經驗豐富的測試機構。在化工原料及產品、金屬礦物、生態環境、食品農產品、裝飾建材等各個行業領域，為廣大企業、高校提供了大量的分析測試服務。
