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    儀表網>全部分類 >分析檢測 >其它通用分析儀器 >離子遷移譜儀 更新時間:2025-06-18 返回產品中心
    離子遷移譜儀

    IMS,是離子遷移譜(Ionmobilityspectroscopy)的簡稱,離子遷移譜(ionmobilityspectrometry,IMS)技術是從20世紀60年代末發(fā)展起來的一門檢測技術,它以離子遷移時間的差別來進行離子的分離定性,借助類似于色譜保留時間的概念,起初被稱為等離子體色譜。基于氣相離子在弱電場中的遷移率來檢測識別不同種類物質的一種常壓分析化學方法,又被成為常壓質譜。[1]IMS在環(huán)境氣壓條件下進行工作.。特別適合于一些揮發(fā)性有機化合物的痕量探測,如毒*、爆*物、化學戰(zhàn)劑和大氣污染物等。IMS系統的核心部分是遷移管,遷移管分

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    離子遷移譜儀

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      導通電阻試驗裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    • J-RAS離子遷移試驗裝置(C

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      離子遷移實驗裝置(CAF) 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
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      J-RAS離子遷移試驗裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    • J-RAS離子遷移試驗裝置(C

      J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
    • J-RAS離子遷移試驗裝置(C

      J-RAS代理離子遷移試驗裝置 CAF測試,J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統,并且重要的試驗數據被保存到CF存儲卡。作為系統構成我們準備了40CH/100CH型,可以根據您的預算、設置空間來進行選擇。
    • 日本J-RAS離子遷移試驗裝

      日本J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF) CAF試驗/CAF測試是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    • 離子遷移測試裝置(CAF)

      ECM-100離子遷移測試裝置(CAF)是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生( ION MIGRATION )。
    • 3000V離子遷移試驗裝置

      3000V離子遷移試驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況。在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
      適用規(guī)格 : JPCA- - ET01-
    • J-RAS離子遷移試驗裝置(C

      J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
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