分子熒光光譜

摘要 高精度貴金屬光普分析儀WPX-9900T采用美國SDD探測器，屬于高精度型光譜儀，是內(nèi)置觸屏電腦的一體化機型，配備了的“一鍵智能測試”軟件，能每秒實時顯示金屬的百分比純度

摘要 經(jīng)濟型X熒光光譜測金儀WPX-3900，性價比非常高；儀器是內(nèi)置觸摸屏電腦一體機，操作便捷流暢，外形小巧精美，便于攜帶，能實現(xiàn)簡單、快速、高效檢測之目的

摘要 手持光譜儀可為您實現(xiàn)現(xiàn)場的精準(zhǔn)的元素分析，無論您在野外還是在礦區(qū)，均可隨時隨地精準(zhǔn)測試，本儀器能快速分析貴金屬（金鉑鈀銠等）和數(shù)百種合金，并配備合號數(shù)據(jù)庫

摘要 X熒光光譜超純金檢測儀WPX-6600PLUS，采用美國FASTSDD半導(dǎo)體多道探測器，DCC雙曲面彎晶技術(shù)

摘要 能量色散X熒光光譜儀LEDX8300H1、功能特點◆LEDX8300H

摘要 第三代手持式合金分析儀

摘要 快速檢測礦石中的元素含量，對礦石進行品位鑒定，能分析88種之多的元素。

摘要 快速普查超大范圍的土壤污染區(qū)，繪制污染圖、實施勘查，對土壤重金屬元素能快速的現(xiàn)場原位分析，快速篩選排查；檢測土壤中汞、鎘、鉛、銅、鉻、砷、鎳、鋅等重金屬元素含量。

摘要 現(xiàn)場無損，快速，準(zhǔn)確分析檢測合金元素和合號的識別；快速分析從鈦（Ti）到钚 (Pu)之間的二十五種以上元素的含量。

摘要 產(chǎn)品特點：1、選用高靈敏度光電倍增管和銦鎵砷探測器；2、配合光斬波器和光子計數(shù)器，有效提高系統(tǒng)信噪比；3、可進行激發(fā)光譜、發(fā)射光譜和同步光譜測試；4、自動剔除粗大誤差，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性；5、模塊化設(shè)計，結(jié)構(gòu)靈活，方便升級。

摘要在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過程中，對殘余奧氏體含量的控制非常嚴格，測量其含量，對于鋼鐵熱處理過程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因為化學(xué)蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和度較低的情況，所以無法做到工業(yè)生產(chǎn)中對殘余奧氏體的測量，而X射線衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量，...

摘要美國CETAC的激光剝蝕/激光燒蝕產(chǎn)品線源于之一的Photon Machines團隊（縮寫PMI），其*代產(chǎn)品于1995年問世，該品牌具有豐富的激光剝蝕產(chǎn)品設(shè)計、研發(fā)、制造及應(yīng)用經(jīng)驗，產(chǎn)品線涉及213nm固體激光、193nm準(zhǔn)分子激光、飛秒激光系統(tǒng)（與ICP-MS聯(lián)用...

摘要TXRF（全反射X熒光）分析原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是，傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角（接近于零度角）入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，可以很大程度上避...

摘要X 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法，而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據(jù) ASTM E975 的X射線測量近無規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的標(biāo)準(zhǔn)方法，ARE X 能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量，同時具有良好的檢出限、精度高、度...

摘要天津良益熒光分光光度計LYF-200定位為中、高研究分子熒光類的儀器設(shè)備，良好的光學(xué)設(shè)計系統(tǒng)有效的保證了產(chǎn)品的精密性和使用時的檢測的穩(wěn)定性;使整機的性能在客戶使用時得到很好的保證和優(yōu)良的狀態(tài);該設(shè)備主要用于材料研究、藥品分析、水質(zhì)檢測、食品安全環(huán)境檢測等領(lǐng)域:如磷光材...

摘要天津良益熒光分光光度計LYF-100為通用型分析設(shè)備，可以滿足用戶的對口性需求，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊、體積小巧、占用面積小，很小的空間內(nèi)即可操作，大大方便用戶。在工作時間和效率上都具有較大的優(yōu)勢該設(shè)備主要用于材料研究、藥品分析，水質(zhì)檢測、食品安全等環(huán)境監(jiān)測領(lǐng)域:可對熒光樣品進...

摘要 X射線衍射法是目前測量鋼體中殘余奧氏體含量最準(zhǔn)確的方法，能夠為鋼鐵熱處理過程控制提供可靠保證，提高產(chǎn)品質(zhì)量。根據(jù)ASTM E975-03的X射線測量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機取向的標(biāo)準(zhǔn)方法，ARE X這款儀器能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量。

摘要 TX2000 原理是基于X熒光能譜法，但與X射線能譜形成對比的是“傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角。

摘要 HORIZON 分析原理是基于X 熒光能譜法，但與能譜分析有著明顯的區(qū)別。與X 射線能譜形成對比的是，能譜采用原級X 光束以45°角轟擊樣品，而HORIZON 采用毫弧度的臨界角(接近于零度角) 入射。

摘要 EDX-6000能量色散X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀應(yīng)用于RoHS/合金/貴金屬/土壤重金屬/廢液重金屬/中心實驗室成品檢驗等領(lǐng)域

摘要 金屬光譜分析儀在進行熒光光譜分析時需要將待測試樣制備成具有一定光滑表面和厚度的樣片，以用于測量

摘要 功能：測量PDP熒光粉在147.0nm、172nm真空紫外輻照激發(fā)下的發(fā)光光譜功率分布、譜線帶寬、峰值波長、發(fā)光亮度、色品坐標(biāo)、顏色純度和主波長等參數(shù)；測量PDP熒光粉的發(fā)光余輝波形曲線、有效余輝時間，以及熒光粉在VUV輻照下的光衰特性

摘要儀器特點★ 熒光強度測量和樣品濃度計算，單機即可進行熒光樣品定量、定性分析。★ 128*64液晶顯示，更人性化的操作界面。★ 高可靠性的冷光源，相對于通常采用的熱光源具有背景低，功耗低，溫度低，壽命長，強度高等優(yōu)勢，避免熱污染，更具節(jié)能環(huán)保優(yōu)勢。 365nm激發(fā)波長，...

摘要

摘要 光譜式分光測試儀便攜式測色儀便攜式光譜儀適用范圍：適用于塑膠/橡膠/涂料/印刷等行業(yè)的配色分析,配方調(diào)整,進出貨檢驗

摘要 煙氣濕度儀 型號：YQS-150W 測量原理： 薄膜電容法 顯示方式： 4位數(shù)碼管顯示 測量范圍： 體積比