膜厚計

產(chǎn)品信息

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最新產(chǎn)品\ NEW PRODUCT

SANKO電阻式膜厚計RST-231
SANKO電阻式膜厚計RST-231
自動附著性試驗機(jī)510，結(jié)露計319，磁式厚度計FH，超聲波式膜厚計QuintSonicT，小型試驗厚度計2500，4500，725，735，745，非接觸膜厚計，混凝土用超聲波式膜厚計ULT-5000，超聲波式膜厚計QuintSonic7，電阻式膜厚計RST-231，電解式膜厚計GCT-311，渦流式膜厚計DMC-211，熒光X線式膜厚計EX-851
SANKO電磁式膜厚計SWT-NEO
SANKO電磁式膜厚計SWT-NEO-F
電磁式膜厚計SWT-NEO-F，SAMAC-F，多功能電磁式膜厚計CTR-2000V，屏幕處理用電磁式膜厚計SP-3300D，電磁式模擬膜厚計Pro-S，Pro-W，SL-1220C，SL-5P，SL-200E，TL -50，SM-Pen
SANKO雙型膜厚計SWT-NEO
SANKO雙型膜厚計SWT-NEO
雙型膜厚計SWT-NEO，SWT-NEOⅡ，SWT-NEOⅢ，SWT-NEO-FN，SWT-N232C，便攜式探針一體型膜厚計SAMAC-FN，SAMAC-PRO，電磁式膜厚計，渦流式膜厚計SWT-NEO-N
膜厚監(jiān)測和控制儀
膜厚監(jiān)測和控制儀使用成熟的 INFICON 石英晶體傳感器技術(shù)在薄膜沉積過程中測量速率和厚度。兩個傳感器輸入為標(biāo)準(zhǔn)輸入，另外四個傳感器輸入為可選輸入。兩個錄像機(jī)輸出可提供模擬速率和厚度信號。
KETT膜厚計L500科學(xué)研究所
KETT膜厚計L500科學(xué)研究所LH-373渦流膜厚計
膜厚計L500，探釷EP-100，HP-100，電磁式膜厚計LE-373，渦流膜厚計LH-373，雙聯(lián)式膜厚計Z-373，雙重型膜厚計LZ990
簡易經(jīng)濟(jì)型膜厚計美國DEF
Positest DFT-F簡易經(jīng)濟(jì)型膜厚計美國DEFELSKO
品牌：美國DEFELSKO
型號：Positest DFT-F
名稱：簡易經(jīng)濟(jì)型膜厚計
功能：測量涂層的厚度
顯微分光膜厚儀
顯微分光膜厚儀，使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對反射率進(jìn)行測量，可進(jìn)行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。
膜厚計
日本KETT涂層測厚儀小巧、實用，用于無損、快速、精確的測量涂層、鍍層厚度。
銷售AsahiSpectra朝日分光
銷售AsahiSpectra朝日分光、光學(xué)式膜厚計
在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光，這時光的一部分在膜的表面反射，另一部分透進(jìn)薄膜，然后在膜與底層（wafer或glass）之間的界面反射。
復(fù)合膜厚度檢測儀金屬片
復(fù)合膜厚度檢測儀金屬片厚度測量儀膜厚計采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

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