白光干涉測(cè)厚儀的技術(shù)特征表現(xiàn)

來(lái)源：廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司 2025年07月31日 07:32

白光干涉測(cè)厚儀可快色準(zhǔn)確的測(cè)量粗糙和鏡面反射工件的表面輪廓。可用于測(cè)量平整度、波紋度、扭曲、臺(tái)階高度和多種其他表面特性。

有全功能設(shè)置，因而可以用在許多不同的情況使用。機(jī)動(dòng)結(jié)合自動(dòng)拼接程序因而能測(cè)量大面積。主要應(yīng)用包括在質(zhì)量管理和過(guò)程控制的使用。這款白光干涉測(cè)厚儀通過(guò)其快速、準(zhǔn)確的檢測(cè),提供較優(yōu)條件產(chǎn)生有意義的尺度來(lái)確保產(chǎn)品和流程的質(zhì)量。

白光干涉測(cè)厚儀的技術(shù)特征：

1.嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制。

2.測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。

3.支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇。

4.實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的較大值、較小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷。

5.配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性。

6.系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果。

7.系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看。

8.標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。

9.支持Lystem™實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告。

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