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隨著拉曼測試手段的進(jìn)步,我們早已不再滿足于得到光譜,拉曼成像使成像信息的維度得到拓展且拉曼無需染色,無需花費(fèi)長時(shí)間制樣,為快速檢測提供了可能。然而拉曼信號微弱,光譜儀系統(tǒng)探測效率低,造成拉曼成像低像素、采樣時(shí)間長等問題。
為了解決這個(gè)問題,眾多科學(xué)家和發(fā)明家一起努力,找到很多方法來縮短拉曼成像的時(shí)間。這些方法大致可以總結(jié)為3類:
全局成像被想象為成像的最終形態(tài),簡介、高效、易于操作。這需要取代光譜儀的部件擁有一定的之處,需要滿足一系列要求:
SLI波長選擇器,不僅可以調(diào)節(jié)中心波長,還可以調(diào)節(jié)帶寬。
Study by Dr. Hideaki Monjushiro in High Energy Accelerator Research Organization ( KEK )
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