哪些光譜儀可以進行元素分析？

     
 
       元素分析是分析某些材料(例如，土壤、廢物、礦物、化合物)樣品的元素組成的過程，有時也分析其同位素組成。元素的分析可以是定性的(確定存在哪些元素)，也可以是定量的(確定每種元素的含量)。元素屬于分析化學的范疇，分析化學是一套用來破譯我們這個世界的化學性質的儀器。


　　元素分析的目的是確定分子或材料中特定元素的數(shù)量。元素分析可以細分為兩種方式：

　　定性：確定存在哪些元素或特定元素。
　　定量：確定存在多少特定元素或每個元素。


　　定量的
　　定量分析是確定每種元素的原子百分比或重量百分比。其他定量方法包括：　x射線光電子能譜(XPS) [/-5%]、SEM-EDS(使用純參考標準)[/-15%]

　　能量色散X射線光譜(EDX或EDS)是一種用于檢測固體材料成分的分析技術。有幾種變體，但它們都依賴于原子核附近的受激電子，導致更遠的電子降低其能級，以填充產(chǎn)生的“空穴”。


　　定性的

　　為了定性地確定樣品中存在哪些元素，方法是：
　     x射線熒光(XRF)
　　x射線光電子能譜(XPS)
　　電感耦合等離子體質譜
　　掃描電鏡能譜儀

　　元素成分分析通常是確認材料或薄膜中存在的主要元素的特性和數(shù)量。


　　選擇的分析技術取決于：

　　你對樣本了解多少？
　　什么需要量化(常量元素、微量元素、化合物或分子成分)？
　　這是面分析，體分析還是層分析？
 
表面化學分析
元素和化學狀態(tài)成分的測量方法是使用具有淺信息深度 (<120?) 的定量技術，例如 X 射線光電子能譜法。


　　批量分析

　　優(yōu)選地，通過具有大量/深度信息的技術來確定成分，這些技術不測量表面的變化。x射線熒光(XRF)和電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-OES)是的技術，可以定量主要和次要元素。


　　薄層分析

　　x射線光電子能譜(XPS)是薄層和體積分析的選擇。
　　傅里葉變換紅外光譜(FTIR)和拉曼光譜非常適合于有機薄膜的分子信息。
　　拉曼光譜非常適用于來自無機化合物的分子信息，但不適用于純金屬。
　　二次離子質譜(SIMS)在化合物半導體薄膜的高精度測量中有一系列的應用。


　　瑞盛科技推薦一系列元素分析儀器，包括能量色散X射線光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)和電感耦合等離子體質譜法(ICP-MS)，可以檢測痕量到百分比水平。用于測試微量元素的樣品類型和基質包括有機和無機、水性和非水性材料。