原子吸收分光光度計— —物理干擾及背景吸收干擾

一、物理干擾

   物理干擾是指溶質和溶劑的物理特性發生變化引起吸光度下降的效應，主要指由于液的黏度、表面張力、密度等的差異引起的霧化效率、溶劑和溶質的蒸發速率等變化而造成的干擾。含有大量的基體元素及其他鹽類或酸類也影響到溶液的物理性質（產生基體效應也會產生干擾。物理干擾是非選擇性干擾。

消除物理干擾的方法有：

①避免使用黏度大的酸作為介質，降低試液黏度；

②加入一些有機溶劑；

③配制與被測試樣組成相似的標準溶液；

④當樣品溶液濃度較高時，可稀釋試液。

無火焰原子吸收中的物理干擾包括：

①進樣進樣體積的大小、位置和幾何形狀都會產生影響；

②記憶效應，待測元素殘留在原子化器中造成的積累干擾稱為記憶效應；

③石量管表面狀態改變，在使用過程中使其表面變得疏松多孔導致樣品流失和滲透，使擴散損失增大；

④冷凝作用，石墨管溫度高而兩端低，當原子化蒸氣從高溫區向低溫區遷移時可能發生原子蒸氣的冷凝。

     在無火焰原子吸收中消除物理干擾的方法有：采用自動進樣器以保證進樣條件一致；為減少記憶效應而提高原子化溫度和延長原子化時間在一次測量之后用空燒或增加一步高溫清洗；采用涂層石墨管；為減小石墨爐產生的誤差要經常校正，發現不適于定量時及時更換石墨管；為避免冷凝作用在緊貼原子化器的有限范圍內測定，或采用氬氧混合氣作為載氣。

二、背景吸收干擾

    背景是一種非原子吸收現象，多數人認為主要來自：

（1）光散射（微固體顆粒引起）火焰中的氣溶膠固體微粒存在，會使入射光發生散射，產生高于真實值的假吸收，使結果偏高。

（2）分子吸收分子吸收是指在原子化過程中生成的氣體分子、氧化物及鹽類分子對輻第三射吸收而引起的干擾，包括火焰的成分，如OH、CH、NH、CO等分子基因吸收光源輻射；低溫火焰中常存在堿金屬和堿土金屬的鹵化物的吸收，如NaCl、KCl、CaCl2等雙原子分子在波長小于300mm的紫外區有吸收帶；在高溫火焰中堿土金屬的氧化物或氫氧化物也會吸收輻射，如Ca(OH)2的吸收帶干擾鋇553.56nm的吸收峰。

    光散射是指在原子化過程中產生的固體微粒對光產生散射，使被散射的光偏離光路不為檢測器所檢測，導致吸光度值偏高。

    背景吸收除了波長特征之外，還有時間、空間分布特征。分子吸收通常先于原子吸收信號之前產生，當有快速響應電路和記錄裝置時，可以從時間上分辨分子吸收和原子吸收信號。樣品蒸氣在石墨爐內分布的不均勻性，導致了背景吸收空間分布的不均勻性。

    提高溫度使單位時間內蒸發出的背景物的濃度增加，同時也使分子解離增加。這兩個因素共同制約著背景吸收。在恒溫爐中，提高溫度和升溫速率，使分子吸收明顯下降。在石墨爐原子吸收法中，背景吸收的影響比火焰原子吸收法嚴重，若不扣除背景，有時根本無法進行測定。