IC高頻近場掃描儀使用時(shí)有哪些事項(xiàng)容易忽略？

來源：上海正衡電子科技有限公司 2024年04月10日 16:14

　　IC高頻近場掃描儀是一種用于檢測和分析集成電路（IC）上高頻信號(hào)的專用設(shè)備。這種掃描儀能夠在不接觸芯片表面的情況下，通過近場探測技術(shù)獲取IC在不同工作狀態(tài)下的電磁場分布信息?；诮鼒鲭姶盘綔y原理，利用一個(gè)小型的探針或者天線在距離IC表面非常近的位置（通常在幾微米到幾毫米的范圍內(nèi)）掃描。探針能夠捕捉到IC工作時(shí)產(chǎn)生的電磁波，并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，然后通過相關(guān)的信號(hào)處理和分析軟件，將這些電信號(hào)轉(zhuǎn)換為可視化的數(shù)據(jù)，如電磁場強(qiáng)度圖、頻譜圖等。

　　IC高頻近場掃描儀的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：

　　1.探針系統(tǒng)：包括一個(gè)或多個(gè)微小的探頭，用于近距離捕捉IC發(fā)出的電磁波。

　　2.定位系統(tǒng)：精確控制探針的位置，實(shí)現(xiàn)對(duì)IC表面的精確掃描。

　　3.信號(hào)處理單元：將探針捕獲的電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，并進(jìn)行初步處理。

　　4.分析軟件：對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行深入分析，生成電磁場分布圖和其他相關(guān)圖表。

　　5.用戶界面：提供操作者與設(shè)備交互的界面，包括顯示屏幕和控制按鈕。

　　應(yīng)用范圍：

　　1.IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證：幫助設(shè)計(jì)師驗(yàn)證IC設(shè)計(jì)中的信號(hào)完整性和電磁兼容性。

　　2.故障分析：用于檢測和定位IC上的異常信號(hào)或噪聲源。

　　3.電磁干擾（EMI）評(píng)估：評(píng)估IC在高頻下的電磁干擾特性。

　　4.熱圖分析：通過分析電磁場的分布，間接推斷IC的功耗和熱點(diǎn)分布。

　　IC高頻近場掃描儀的使用注意事項(xiàng)：

　　1.校準(zhǔn)儀器：在進(jìn)行測量前，需要對(duì)儀器進(jìn)行適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，以確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

　　2.環(huán)境控制：保持測量環(huán)境的穩(wěn)定，避免外部電磁干擾影響測量結(jié)果。

　　3.樣品準(zhǔn)備：確保IC樣品工作正常，并處于正確的工作模式。

　　4.數(shù)據(jù)解釋：分析數(shù)據(jù)時(shí)需具備專業(yè)知識(shí)，正確解釋電磁場分布圖和頻譜圖。

相關(guān)產(chǎn)品

免責(zé)聲明

凡本網(wǎng)注明“來源：儀表網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-儀表網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：儀表網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它來源（非儀表網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé)，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí)，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。

IC高頻近場掃描儀使用時(shí)有哪些事項(xiàng)容易忽略？

免責(zé)聲明

IC高頻近場掃描儀使用時(shí)有哪些事項(xiàng)容易忽略？