鍍鎳測厚儀檢測原理分類與影響測量精度的原因

　　X射線熒光光譜儀，專門用于鍍金/鍍錫/鍍鉻/鍍銀/鍍鎳層厚度檢測;其核心部件采用美國進口，軟件算法采用XRF前沿技術，儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構報告;精密度、準確度、檢出限等技術參數全面超過國內外同類儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測試即可達到精確的測試效果。

　　1.鍍鎳測厚儀根據測量原理的分類

　　(1)磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高.

　　(2)渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度高.

　　(3)超聲波測厚法:適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.

　　(4)電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩.

　　(5)放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合.國內目前使用普遍的是前兩種方法.

　　2.影響鍍鎳測厚儀測量精度的原因

　　(1)覆蓋層厚度大于25µm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;

　　(2)基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關;

　　(3)任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;

　　(4)渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的.

　　(5)試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;

　　(6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;

　　(7)渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感.因此測量前應清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。

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