X熒光儀器工作原理

　　XD-1000上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件，如線路板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。下面和一六儀器一起了解X熒光儀器工作原理。

　　X熒光光譜測厚儀儀器工作原理：

　　1)在 X 射線管中，由加熱陰極產(chǎn)生的電子，在受到為 50KV 的可調(diào)高壓的加速后，轟擊陽極(通常由鎢或鉬組成)。

　　2)電子的動能主要轉(zhuǎn)化為韌致輻射。此外，在陽極(例如鎢)上還會產(chǎn)生的，高強度的 X 射線熒光輻射。初級輻射就是這兩種輻射的組合。能量為 50KeV。

　　3)采用不同大小和形狀(圓形，正方形，槽型)的視準器，可選擇 X 射線射到工件上的形狀和尺寸，這樣就可以測量小到約 50Ⅹ50 µm 的測量點。視準器由通透的可進行測量點光學(xué)成像的材料組成。

　　4)有一個光源(圖中沒有畫出)用于樣品的照明。采用一塊反射鏡和透鏡可直接反射光線到彩色的視頻攝像頭上。反射鏡的中心有一個孔，用于通過初級輻射。

　　5)初級輻射激勵鍍層和底材發(fā)射 X 射線熒光輻射。這是由于初級輻射量子碰撞內(nèi)部的某一電子層上的電子所致(光電效應(yīng))。

　　6)由于能量的緣故，產(chǎn)生的空位由外層的一個電子填充，能量差以 X 射線熒光輻射(Kα，Kβ 輻射，等等)的形式發(fā)出。該能量差是相應(yīng)材料的特征能級差。

　　7)輻射信號使用輻射探測器來測量，通常采用充滿氙氣的比例計數(shù)器。X 射線熒光輻射電離氙原子。釋放出的電子朝著處于計數(shù)器的高線加速。自由電子的數(shù)目與 X 射線熒光輻射的能量成正比。

　　8)撞擊軸線的電子轉(zhuǎn)換為電脈沖，由放大器放大，脈沖的高度與輻射能量成正比。

　　9)脈沖按照它們產(chǎn)生的能量和頻率(強度)進行排序。這樣就可以獲得給定的鍍層/底材組合的X射線熒光輻射頻譜。采用基本參數(shù)方法，軟件可根據(jù)相關(guān)的理論計算得出鍍層厚度和成分，甚至可以允許無標準片測量。

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