集成電路測(cè)試儀

來(lái)源：江蘇鴻瑞儀表有限公司 2008年11月11日 16:36

隨著科技的不斷發(fā)展，我們已進(jìn)入集成電路時(shí)代,為了不被時(shí)代所淘汰我們應(yīng)盡可能多的學(xué)一些關(guān)于集成電路的知識(shí),現(xiàn)在就讓我們了解一下與之有關(guān)的集成電路測(cè)試儀是什么。是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的儀器設(shè)備，集成電路的分類很多，主要大的分類有數(shù)字集成電路和模擬集成電路等，按集成電路的分類，也可以分為：數(shù)字和模擬。按功能分類：可以分為集成電路功能測(cè)試儀和集成電路參數(shù)測(cè)試儀；按形式分：便攜式和臺(tái)式。功能測(cè)試：是對(duì)集成電路的功能進(jìn)行判定，看是否功能失效。參數(shù)測(cè)試：是對(duì)集成電路的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，看測(cè)試讀取的參數(shù)是否符合ic的設(shè)計(jì)要求。

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