X射線熒光光譜儀發(fā)展歷史，你了解多少？

　　X射線熒光光譜儀在我們生產(chǎn)的各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，對(duì)于企業(yè)生產(chǎn)質(zhì)量的保障都有重要作用。X射線熒光光譜儀也經(jīng)歷了長(zhǎng)時(shí)間的發(fā)展過(guò)程，在發(fā)展的過(guò)程中不斷突破技術(shù)瓶頸，變得越來(lái)越好。那關(guān)于X射線熒光光譜儀的發(fā)展歷史，你了解多少呢?跟著X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器來(lái)了解一下吧。

　　1895年德國(guó)物理學(xué)家倫琴發(fā)現(xiàn)X射線;

　　1969年美國(guó)實(shí)驗(yàn)室研制出EDXRF;

　　1990年北京中產(chǎn)電子、上海硅酸鹽研究所、成都地質(zhì)學(xué)院、西安262廠、西安海通原子能研究所、重慶地質(zhì)儀器廠研制EDXRF;

　　1997年德國(guó)菲希爾在中國(guó)注冊(cè)公司銷售EDXRF測(cè)厚儀;

　　2000年英國(guó)牛津儀器在定型自有FP算法;

　　2001年英國(guó)牛津在中國(guó)注冊(cè)公司銷售EDXRF測(cè)厚儀;

　　2003年德國(guó)費(fèi)希爾儀器在定型自有FP算法;

　　2005年日本精工儀器在中國(guó)注冊(cè)公司銷售EDXRF測(cè)厚儀;

　　2009年國(guó)內(nèi)儀器廠商海外購(gòu)買FP算法推出EDXRF測(cè)厚儀;

　　2017年一六儀器全新EFP算法成熟，推出新一代EDXRF測(cè)厚儀;

　　一六儀器發(fā)展歷程：

　　2009年一六儀器團(tuán)隊(duì)成員根據(jù)多年的EDXRF研發(fā)及應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，重新搭建更新一代算法、結(jié)構(gòu)、部件及控制總成系統(tǒng)。

　　2012年算法模型和新型搭建成功，部件開(kāi)始投入市場(chǎng)。

　　2015年EFP核心算法的軟件進(jìn)行整機(jī)測(cè)試其最小測(cè)量面積、變焦、及復(fù)雜多層的能力。

　　2017年12月正式發(fā)布新型測(cè)厚儀XTU系列及EFP算法軟件。

　　至今相繼推出了XTU、XAU、XTD、XAD等系列的多種儀器型號(hào)，功能包括涂鍍層分析、Rohs檢測(cè)、地質(zhì)地礦全元素分析、古董珠寶貴金屬檢測(cè)。

　　以上就是X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部?jī)?nèi)容，如果大家想要了解更多關(guān)于X射線熒光光譜儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。