X熒光光譜儀性能評估三要素，你了解嗎？

　　X熒光光譜儀根據用途和設計針對性有很多俗稱：如X熒光測厚儀、X-ray膜厚儀、光譜測厚儀等，隨著技術的不斷發展進步，X熒光光譜儀在非常多的領域都得到了廣泛的應用，對于企業發展提供了很大的助力，很多人在購買X熒光光譜儀的時候不知道看什么，實際上X熒光光譜儀性能評估需要注意三要素，今天跟著X熒光光譜儀廠家來了解一下吧。

　　1.最小測量面積：性能好的儀器最小測量直徑可以到0.1mm以下。

　　2.可測樣品形狀的復雜程度：除了對焦還搭配變焦裝置和算法，可以測試凹凸高低落差90mm以上。

　　3. 測量樣品的組分結構：除了測試一般合金和多層膜厚，還可以測試重復鍍層和輕元素等。

　　X-RAY測厚儀配備的微光聚集和變焦裝置搭配了*的解譜技術，再結合新型的探測器及數字多道處理，在一六儀器的新算法軟件上，讓成分及Rohs分析可以在更微小的樣品上也實現了精準測量。各裝置高度集成，不分散、不弱化光強，能夠*兼顧RoHS、全元素分析、各種大小異形涂鍍層樣品的快速精準檢測，每一個功能都是專業的。

　　以上就是X熒光光譜儀生產廠家一六儀器給大家整理的全部內容，如果大家想要了解更多關于X熒光光譜儀的內容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售和服務。公司產品廣泛的應用于環保、涂鍍層、糧食、地質地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領域。