光譜分析儀生產廠家介紹光譜儀的構成及相關性能

　　光譜分析儀在我們社會生產的各個領域都進行了廣泛的應用，但是很多人對于光譜分析儀了解并不多，如果我們以后需要經常使用它的話，還是對他對一些了解比較好。現在光譜分析儀生產廠家一六儀器就帶您從以下八點，深度剖析一臺光譜儀的構成及相關性能介紹。

　　1.光路系統

　　高精度的X熒光光譜儀除了有好的微焦射線管外，還必須具備不可見光(X熒光)垂直聚焦的同時能與可見光同軸激發和觀測被測物的相同位置;如果還能變焦，就可探測有凹凸高低落差的檢測底部位置。

　　2.多準直器、多濾光片

　　為了適應Rohs、全元素分析、各種大小樣品的快速、精準、節能測試可搭配多準直器、多濾光片，可實現多功能、低能耗準確測試，使用壽命更長。一六儀器的準直器、濾光片切換模塊集成內置于光路系統內，不影響聚焦、變焦。

　　3.抽真空腔體

　　真空測試搭配EFP算法對輕元素的探測檢出限更低，一六儀器優良的結構設計在真空腔體中依然保留了*的光路等等所有切換系統。

　　4.上、下照式結構

　　上照式指X射線從上往下照，下照式指X射線從下往上照;上照式增加了對焦功能，搭配變焦功能可以更加快速的調校和測量凹凸落差樣品。在其它配置相同的情況下，上照式價格稍高一點。

　　5.接收器

　　正比計數器：分辨率相對較低，但是接收面積大，可以達到500mm2以上，計數率高。一六儀器擁有*的解譜技術，多型號采用日本佳能(原東芝)正比計數器，價格稍高，性能穩定。特別是對微小樣品高效率檢測時優勢就更加突出。

　　Si-Pin探測器：分辨率較好145-200eV,業內常用配置，但計數率不高接收面積6-25mm2(面積越大效率高但分辨率差)。價格稍高，測量直徑大于0.2mm可選用此類配置。

　　SDD探測器：分辨率很好135-150eV，接收面積6-75mm2(面積越大效率越高，且分辨率不會變差)。分辨率好、面積也大的價格昂貴，一六儀器的SDD配置只選用分辨率好，面積25mm2以上的。

　　6.算法及軟件

　　(1) 經驗系數法(EC):通過大量標樣建立曲線，測試多層及多元復合層較困難。測試鍍層范圍在Cl(17)-U之間元素。

　　(2) 基本參數法(FP)通過理論參數用些基本標樣建立曲線，測試鍍層范圍在Cl(17)-U(92)之間元素。抽真空測試Na(11)-U(92)之間元素

　　(3)多元迭代法(EFP)計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等，結合EC法Fp法多元優化迭代開發出EFP核心算法，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。無需抽真空就可測試鍍層范圍在Li(3)-U(92)之間元素。

　　7.高壓

　　一六儀器臺式機的升壓部分內置于射線裝置油箱中，更短更封閉的高壓傳輸，封閉在油箱里更利于散熱和滅弧。高壓控制在下位機中置入優化算法，具備智能升壓、休眠、過熱保護控制等功能。

　　8.X、Y移動平臺

　　(1) 手動精密移動滑軌:移動范圍：50mm*50mm，精度：0.1mm，承重：5KG

　　(2) 手動大行程移動滑臺:移動范圍：100mm*150mm，精度：0.1mm，承重：15KG

　　(3) 可編程精密自動平臺:移動范圍：200mm*200mm，精度：0.1mm，承重：20KG

　　以上就是光譜分析儀生產廠家一六儀器對于光譜分析儀的相關介紹，如果你想要了解更多內容，歡迎聯系我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售和服務，在微小面積、異形高低面探測、多層多元素與多層同元素的檢測上，都具備更佳的表現。