X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律？

　　X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶w及非導體材料進行分析，近些年在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢?今天就和X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。

　　1、莫塞萊定律

　　臺式光譜儀發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障，對于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手。

　　2、布拉格定律

　　該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導定律，同時，布拉格定律是波長色散型X熒光光譜儀所使用的分光原理，在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光*分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低儀器檢出限。

　　3、比爾-朗伯定律

　　比爾-朗伯定律是反應(yīng)樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時，樣品可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長分開，分別測量不同波長的X射線強度，以進行定性和定量分析。

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