制糖廠通過*的糖結(jié)晶控制工藝提升盈利能力

來源：無錫森邁格測(cè)量技術(shù)有限公司 2022年03月22日 11:58

為什么要基于過飽和度控制煮糖呢？

高質(zhì)量糖的生產(chǎn)依賴于晶體生長(zhǎng)，而過飽和正是促進(jìn)晶體生長(zhǎng)的原動(dòng)力。結(jié)晶速度是多個(gè)參數(shù)的函數(shù)。過飽和度的定義為：母液的實(shí)際糖濃度與相同溫度下的飽和糖濃度的比值。

過飽和度有一個(gè)最佳范圍，在這個(gè)范圍內(nèi)，糖晶體均勻而廣泛地生長(zhǎng)，達(dá)到所需的晶體粒度。在此范圍之外，晶體將停止生長(zhǎng)，甚至可能自然熔化或開始形成新晶體，產(chǎn)生需要回溶再加工的粉晶和黏晶。這會(huì)帶來重大影響，因?yàn)檫@種情形會(huì)導(dǎo)致時(shí)間和能源的浪費(fèi)、增加生產(chǎn)成本和水的消耗，并減少糖的有效產(chǎn)量。

為了制定能夠解決這些難題的基于過飽和度的控制解決方案，工廠為煮糖罐配備了維薩拉 K-PATENTS® SeedMaster SM-3 系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠?yàn)檫^飽和度計(jì)算提供實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。SeedMaster 專為糖結(jié)晶應(yīng)用場(chǎng)景而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)由在線折光儀和多參數(shù)監(jiān)測(cè)設(shè)備組成，可提供糖結(jié)晶所需的參數(shù)，并能夠支持全自動(dòng)控制解決方案的實(shí)施。

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