量塊的計量性能要求及外觀要求

量塊的計量性能要求和外觀要求
一、量塊性能要求
1．截面尺寸、連結孔和支承定位線應符合表3.4、圖3—6的規(guī)定。
2．對側面的要求
（1）    量塊側面的平行度、側面對測量面的垂直度和側面之間的平行度均應不過表3.5的規(guī)定。
表3.5
 

側面的平行度用間隙法檢測；側面之間的平行度用千分尺檢測。
對於側面對測量面的垂直度Sp，用直角尺和平面板檢測。如圖所示，檢測時，將量塊和0級直角尺置於平板上，移動直角尺使其工作邊與量塊測量面接觸，用光隙法測出直角尺與量塊測量面之間的大間隙。當量塊的兩個較窄側面分別與平板接觸，可測得四個間隙值Sa1、Sa2、Sa3、Sa4；當量塊的兩個較窄寬側面與平板接觸，可測得四個間隙值Sb1、Sb2、Sb3、Sb4。
依據(jù)表3.5中Sb值計算：
Sap=Sp(a–2×0.8)/Ln  ………………式(3.2）
Sbp=Sp(b–2×0.8)/Ln  ………………式(3.3）
測得的Sai值應不過Sap，測得的Sbi值應不過Sbp。
（2）    量塊的所有棱邊應具有半徑不大於0.3mm的倒圓或不大於0.3mm的倒棱，在倒棱邊與測量面之間的連接處應保證不降低測量面的研合性。
（3）    量塊相鄰側面之間的夾角應為90°±0°10′。
3．表面粗糙度
鋼制量塊各表面的表面粗糙度見表3.6的規(guī)定。其它材料制造的量塊各表面的表面粗糙度參考表3.6的規(guī)定或由制造者提供。
表3.6

量塊測量面的表面粗糙度用於涉顯微鏡或其它儀器測量；其餘表面用樣塊比較法或輪廓儀測量。
4．測量面的平面度
應符合表3.7的規(guī)定
表3.7   量塊測量面的平面度

量塊測量面的平面度用平面平晶用光波干涉法測量。
5．測量面的研合性
量塊測量面的研合性應符合表3.8的規(guī)定。