Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱的功能優(yōu)勢

　　Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱可做高溫高濕高壓、雙85試驗(yàn)等測試，用于電子原器件，LED封裝，芯片(IC)、集成電路、半導(dǎo)體等檢測產(chǎn)品性能之用。

　　【Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱安全保護(hù)裝置】

　　艾思荔采用三道高溫保護(hù)裝置、溫度用水?dāng)嗨Ｗo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺(tái)停機(jī)時(shí)自動(dòng)排除飽和蒸氣壓力、氣動(dòng)機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等，完善的保護(hù)裝置，保障實(shí)驗(yàn)室與操作人員安全。

　　【Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱設(shè)備質(zhì)量性能】

　　工藝技術(shù)品質(zhì)好，耐磨性強(qiáng)，設(shè)備性能穩(wěn)定，使用壽命可達(dá)20年。

　　【Hast非飽和型老化試驗(yàn)箱新技術(shù)*優(yōu)勢】

　　優(yōu)的溫濕度jing密控制邏輯，防止待測品潮濕與結(jié)露的模式選擇壓力值采實(shí)際感應(yīng)偵測，確保溫度、濕度及壓力值準(zhǔn)確度。

　　可選購多個(gè)BIAS電壓端子：符合JESD22-A110之實(shí)驗(yàn)規(guī)范要求，模擬待測品在高溫、高濕環(huán)境下，加載大式作電壓，檢測內(nèi)部封裝模塊材料接合與保護(hù)層的滲透，并且觀察是否造成遷移。

　　【合作案例】濟(jì)南半導(dǎo)體研究所、廣州賽寶、北京航空航天大學(xué)、華為技術(shù)、中北大學(xué)、NEC電子、北京協(xié)同創(chuàng)新研究院、比艾奇、訊芯等等企業(yè)。