美國B＆W Tek光譜儀 原理介紹

相關產品介紹：

Exemplar Plus LS是一款高性能智能光譜儀，利用像差校正凹面全息光柵來很大程度地減少雜散光。其長焦距加上高量子效率檢測器，可在整個190-1100nm光譜范圍內提供 的數據質量。Exemplar Plus LS具有高信噪比，使其非常適合弱光應用，還具有內置快門，即使在照明條件下也可以進行暗掃描測量。作為Exemplar產品系列的成員，它具有板載數據處理和USB 3.0通信功能。Exemplar產品線還針對具有超低觸發延遲和柵極抖動的多通道操作進行了優化。

標準光譜配置范圍為180nm-1050nm，分辨率范圍為0.6nm至6.0nm。自定義配置可用于OEM應用程序。

特征：

-車載處理，包括平均，平滑和暗補償

-每秒以6.3ms的積分時間采集和傳輸140多個光譜

-支持多達32個具有超低觸發延遲（95ns）和柵極抖動（+/- 20ns）的設備

技術指標：

-電源輸入：5V DC @ 3.0A（max啟動時）

-器類型：背面薄型CCD陣列

-波長范圍：190nm-1100nm

-檢測器像素格式：2048個有效檢測器元件

-有效像素大小：14微米x?0.9毫米

-光譜儀f /＃：3.0

-光譜儀光學布局：凹面全息，像差校正，平場

-動態范圍：50,000（典型值）

-數字化儀分辨率：16位或65,535：1

-資料傳輸速度：突發模式下積分時間為6.3ms時每秒> 140光譜

-觸發延遲：95ns +/- 20ns（要求時序圖）

-讀出速度：> 400kHz

-整合時間：6.3ms，以1μs為增量可調

-輔助端口：外部觸發，4個數字輸出（2個帶快門控制），2個數字輸入，模擬輸入，模擬輸出和系統復位

-工作溫度：5°C-35°C

-工作相對濕度：85％無冷凝

-CCD散熱：默認值：環境溫度為25oC時為0oC。

-重量：2.6磅

-尺寸圖：7.0英寸x 4.25英寸x 2.68英寸（178毫米x 108毫米x 67毫米）

-電腦介面：USB 3.0 / 2.0

-操作系統：Windows：7、8（32位和64位）

應用范圍：

-弱光紫外到近紅外光譜

-拉曼和熒光光譜

-在線過程監控

-LCD顯示量測

-生物醫學光譜學

-和水分析

-LED表征