單相測試

在“變比測試選擇”屏下選中“單相測試”項后，按“確認”鍵進入“單相測試參數(shù)設(shè)置”屏（見圖八）。

圖八

該屏設(shè)置操作和“盲測功能參數(shù)設(shè)置”屏類似。

額定高壓、額定低壓：設(shè)置所測試品的額定高、低電壓值。高、低電壓值可以按實際電壓值輸入，也可以根據(jù)實際情況按實際比例關(guān)系輸入。當選擇“單相CT”測試后，高、低電壓值代表CT的一次側(cè)額定電流值和二次側(cè)額定電流值，可以按實際電流輸入，也可以根據(jù)實際情況按實際比例關(guān)系輸入。

分接：設(shè)置所測試品的分接間距。

額定分接：設(shè)置所測試品的額定分接位，對于沒有分接位的試品，額定分接位輸入00或01即可。

試品編號：設(shè)置本次試驗的試品編號。

測試：選擇不同的測量方式。

• 單相PT：根據(jù)設(shè)置的參數(shù)對PT進行變比極性測量。
• 單相CT：根據(jù)設(shè)置的參數(shù)對CT進行變比極性測量。
• 單相變壓器：根據(jù)設(shè)置的參數(shù)對單相變壓器進行變比極性測量。

設(shè)置好參數(shù)后，按“確認”鍵可直接測試。

以“單相PT”測試為例，在測試過程中，儀器如果檢測到短路、高低壓反接故障時，彈出故障提示框報警，并停止測量。

“單相PT測試結(jié)果”屏（見圖九）。

圖九

操作和“三相變比測試結(jié)果”屏類似。

性能特點  

2.1 直阻變比測試功能：同時具有直阻測試和變比組別測試功能，一次接線，完成兩種測試，簡單方便。

2.2 變比測試：具有全三相正弦逆變電源輸出，輸出電壓自動調(diào)節(jié)，具有軟啟、軟停功能，因此測試速度快、精度高。

2.3 變比測試：三相變壓器、單相變壓器、PT、Z型變壓器變比、組別、極性測試功能。

2.4 變比測試：具有盲測功能，即在不知道高、低壓聯(lián)結(jié)方式時進行變比、組別測試。

2.5 變比測試：CT變比極性測試功能。

2.6 變比測試：單相測試時具有角差測試功能。

2.7 變比測試：分接檔位高可測試到197檔。

2.8 變比測試：測試量程寬，高可達10000。

2.9 變比測試：高低壓反接保護功能。

2.10 變比測試：輸出短路保護功能。

2.11直阻測試：對于星型接法且具有中性點引出線的繞組測試，儀器可以采取三相同時測量的方式測試A0、B0、C0相的電阻，節(jié)省測試時間。

2.12直阻測試：三相測試時先測試A0相的數(shù)據(jù)，再三相同時測試，解決了三相同時測試時中性點引出線電阻不能測試的問題，使測試數(shù)據(jù)更接近單相測試值。

2.13直阻測試：具有反電動勢保護、斷線保護、斷電保護等多種保護功能。

2.14直阻測試：測量范圍寬，精度高。

2.15不掉電時鐘和日期顯示；數(shù)據(jù)存儲方式分為本機存儲和優(yōu)盤存儲，其中本機存儲可存儲測試數(shù)據(jù)600條（直阻測試300條、變比測試300條），并且本機存儲可轉(zhuǎn)存至優(yōu)盤；優(yōu)盤存儲數(shù)據(jù)格式為Word格式，可直接在電腦上編輯打印。

2.16 熱敏打印機打印功能，快速、無聲。

2.17 體積小、重量輕，方便攜帶使用。

技術(shù)指標

3.1 變比測試

3.1.1 量程：0.9～10000

3.1.2 準確度：±(讀數(shù)×0.1%+2字)(小于等于500)     

±(讀數(shù)×0.2%+2字)(大于500小于等于3000)

±(讀數(shù)×0.3%+2字)(大于3000)

3.1.3 分辨率：0.9～9.9999（0.0001）   100～999.99（0.01）  10000及以上（1）

10～99.999（0.001）      1000～9999.9（0.1）

1. 2. 直阻測試

3.2.1 量程：10A      1.000mΩ～1Ω      1  A      100.0mΩ～20Ω

5 A      10.00mΩ～4Ω      0.2A      1.000 Ω～100Ω

5A + 5A  10.00mΩ～1Ω      0.2A+0.2A  1.000 Ω～50Ω

1A + 1A  100.0mΩ～5Ω

3.2.2 準確度：±(讀數(shù)×0.2%+2字)

3.2.3 分辨率：0.01uΩ

3.3 工作電源：AC220V±10%, 50/60Hz

3.4 使用溫度：-10℃～50℃

3.5 相對濕度：＜90%，不結(jié)露

 Z型測試

“Z型測試”和“三相測試”設(shè)置、操作類似，具體操作可參考“三相測試”的相關(guān)操作，在此不多作贅述。

5.3.2直阻測試

直阻參數(shù)設(shè)置