rohs測試儀為我們生活建立保護罩

2020年06月28日 08:22

　　題記：隨著生活水平的提高，越來越多的電子產品融入我們的生活的方方面面，使得我們生活更簡便，更豐富。但是很多電子產品會有重金屬含量，這個含量如果超標，就會危害我們的健康，所以我們需要rohs測試儀。

　　其實rohs測試儀還有一個名字，叫X射線熒光分析儀，而且還分為能量色散型和波長色散型，能量色散型因其技術原理及結構比波長色散型簡單，所以現在霸占著大部分得市場。

　　rohs測試儀還有很多特點，比如：

　　1.下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求

　　2.準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用

　　3.移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點

　　4.rohs測試儀高分辨率探測器：提高分析的準確性

　　5.高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率。

　　rohs測試儀元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)，分析檢出限可達1ppm，分析含量一般為1ppm到99.99%，任意多個可選擇的分析和識別模型，相互獨立的基體效應校正模型，多變量非線性回歸程序，溫度適應范圍為15℃至30℃。

　　rohs測試儀可以分析地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析，金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定，黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

　　rohs測試儀圖：

　　rohs測試儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。

　　X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。

　　波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：

　　nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

　　式中，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息。

　　能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：

　　Q=kE

　　式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；k為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。

　　待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。

　　rohs測試儀是為了控制生產商生產的產品中對人體健康有害的重金屬含量。比如空調、洗衣機、吸塵器、熱水器、手機、這些產品在人們生活中都會經常遇到，所以如果重金屬超標會影響人體健康。建議生產商要嚴格控制重金屬含量，保障廣大消費者的健康。

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