IC芯片卡雙向扭曲試驗(yàn)機(jī)公司承諾

IC芯片卡雙向扭曲試驗(yàn)機(jī)的用途用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

IC芯片卡雙向扭曲試驗(yàn)機(jī)由衡翼儀器研制成功，該測(cè)試儀工位為15工位，其中5工位為長(zhǎng)邊彎曲，5工位為短邊彎曲，5工位為扭曲試驗(yàn)。將計(jì)數(shù)次數(shù)增加到9999次，計(jì)數(shù)方法采用非接處光電計(jì)數(shù)(傳統(tǒng)采用開關(guān)量計(jì)數(shù))，將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉(zhuǎn)角度任意可調(diào)。

衡翼儀器IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)專業(yè)服務(wù)國(guó)網(wǎng)電網(wǎng)客戶，為企業(yè)客戶及國(guó)內(nèi)外研究單位提供定制化研發(fā)服務(wù)，衡翼更專業(yè)，更值得信賴。

IC芯片卡雙向扭曲試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

IC芯片卡雙向扭曲試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù):

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測(cè)試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長(zhǎng)邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長(zhǎng)邊小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

IC芯片卡雙向扭曲試驗(yàn)機(jī)公司承諾：

1.購機(jī)前，我們專門派技術(shù)人員為您設(shè)計(jì)的流程和方案

2.購機(jī)后，將免費(fèi)指派技術(shù)人員為您調(diào)試安裝

3.整機(jī)保修一年，產(chǎn)品終身維護(hù)

4.常年供應(yīng)設(shè)備的易損件及耗品確保儀器能長(zhǎng)期使用