國(guó)外儀器儀表的發(fā)展趨勢(shì)

　  綜觀科學(xué)上的重大發(fā)現(xiàn)，往往是由于新的觀測(cè)手段的發(fā)明而開展起來的。以物理學(xué)諾貝爾獎(jiǎng)金獲得者為例，百分之五十的工作是得益于新的儀器或測(cè)試手段的發(fā)明創(chuàng)造。儀器儀表也是實(shí)現(xiàn)信息的獲取、轉(zhuǎn)換、存貯、處理和揭示物質(zhì)運(yùn)動(dòng)的*工具，儀器儀表裝備水平在很大程度上反映出一個(gè)國(guó)家的生產(chǎn)力發(fā)展和現(xiàn)代化水平。 
 
  　　一、  儀器儀表發(fā)展概況 
  　　50年代初期，儀器儀表取得了重大突破，數(shù)字技術(shù)的出現(xiàn)使各種數(shù)字儀器得以問世，把模擬儀器的精度、分辨力與測(cè)量速度提高了幾個(gè)量級(jí)，為實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化打下了良好的基礎(chǔ)。 
 
  　　60年代中期，測(cè)量技術(shù)又一次取得了進(jìn)展，計(jì)算機(jī)的引入，使儀器的功能發(fā)生了質(zhì)的變化，從個(gè)別電量的測(cè)量轉(zhuǎn)變成測(cè)量整個(gè)系統(tǒng)的特征參數(shù)，從單純的接收、顯示轉(zhuǎn)變?yōu)榭刂啤⒎治觥⑻幚怼⒂?jì)算與顯示輸出，從用單個(gè)儀器進(jìn)行測(cè)量轉(zhuǎn)變成用測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量。 
 
  　　70年代，計(jì)算機(jī)技術(shù)在儀器儀表中的進(jìn)一步滲透，使電子儀器在傳統(tǒng)的時(shí)域與頻域之外，又出現(xiàn)了數(shù)據(jù)域（Data  domain）測(cè)試。 
 
  　　80年代，由于微處理器被用到儀器中，儀器前面板開始朝鍵盤化方向發(fā)展，過去直觀的用于調(diào)節(jié)時(shí)基或幅度的旋轉(zhuǎn)度盤，選擇電壓電流等量程或功能的滑動(dòng)開關(guān)，通、斷開關(guān)鍵已經(jīng)消失。測(cè)量系統(tǒng)的主要模式，是采用機(jī)柜形式，全部通過IEEE-488總線送到一個(gè)控制器上。測(cè)試時(shí)，可用豐富的BASIC語言程序來高速測(cè)試。不同于傳統(tǒng)獨(dú)立儀器模式的個(gè)人儀器（Personal  instrument）已經(jīng)得到了發(fā)展。 
  90年代，儀器儀表與測(cè)量科學(xué)進(jìn)一步取得重大的突破性進(jìn)展。這個(gè)進(jìn)展的主要標(biāo)志是儀器儀表智能化程度的提高。突出表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面。 
 
  1．  微電子技術(shù)的進(jìn)步將更深刻地影響儀器儀表的設(shè)計(jì)； 
  2．  DSP芯片的大量問世，使儀器儀表數(shù)字信號(hào)處理功能大大加強(qiáng)； 
  3．  微型機(jī)的發(fā)展，使儀器儀表具有更強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力； 
  4．  圖像處理功能的增加十分普遍； 
  5．  VXI總線得到廣泛的應(yīng)用。 
 
 
  　　二、  國(guó)外儀器儀表發(fā)展特點(diǎn) 
 
  　　1．  新技術(shù)的應(yīng)用 
 
  　　目前普遍采用EDA（電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化）、CAM（計(jì)算機(jī)輔助制造）、CAT（計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試）、DSP（數(shù)字信號(hào)處理）、ASIC（集成電路）及SMT（表面貼裝技術(shù)）等。 
 
  　　2．  產(chǎn)品結(jié)構(gòu)變化 
 
  　　注重性能價(jià)格比。在重視儀器開發(fā)的同時(shí)，注重*和量大面廣產(chǎn)品的開發(fā)與生產(chǎn)。 
 
  　　注重系統(tǒng)集成，不僅著眼于單機(jī)，更注重系統(tǒng)、產(chǎn)品軟化，隨著各類儀器裝上了CPU，實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化后，軟件上投入了巨大的人力、財(cái)力。今后的儀器歸納成一個(gè)簡(jiǎn)單的公式：儀器=AD/DA+CPU+軟件，AD芯片將模擬信號(hào)變成數(shù)字信號(hào)，再經(jīng)過軟件處理變換后用DA輸出。