大理石校驗平臺基本技術(shù)要求

 大理石校驗平臺精度高，無靜電，經(jīng)久耐用，測量精度高等優(yōu)點，工作面有長方形、正方形、圓形等，可加工V形、T形、U形槽、燕尾槽、圓孔、長孔等，是用于工件、設(shè)備檢測、劃線、裝配、焊接、組裝、鉚焊的平面基準(zhǔn)量具。

   大理石校驗平臺基本技術(shù)要求

1、大理石平臺工作面上不得有嚴(yán)重影響外觀和使用性能的砂孔、氣孔、裂紋、夾渣、縮松、劃痕、碰傷、銹跡等缺陷。

  2、大理石平臺非工作面上的凹陷或掉角允許修補。

  3、大理石平臺應(yīng)采用細(xì)晶粒、結(jié)構(gòu)致密的輝長巖、輝綠巖、花崗巖(黑云母應(yīng)小于5%、彈性模量應(yīng)大于0.6x10-4kg/平方厘米、吸水率應(yīng)小于0.25%)等材料制造，其工作面硬度應(yīng)大于70hs。

  大理石校驗平臺基本技術(shù)要求

  4、大理石平臺工作面的表面粗糙度R的zui大允許值為0.32—0.63μm，側(cè)面為10μm。

  5、大理石平臺工作面的平面度公差在溫度20℃下給定：000級=1×(1+d/1000)um、00級=2×(1+d/1000)um、0級=4×(1+d/1000)um、1級=8×(1+d/1000)um、(d為對角線長度，mm)，距工作面邊緣zui大30mm內(nèi)平面度公差不計，且任意一點不得高于工作面。

  6、對采用對角線或網(wǎng)格法檢驗大理石平臺工作面平面度時，應(yīng)檢驗其平面波動量，工作面的平面波動量為000級=2μm，00級=4μm，0級=8μm，1級=16μm。

  7、大理石平臺側(cè)面對工作面的垂直度公差和平臺倆相鄰側(cè)面的垂直度公差均按GB/T1184中規(guī)定的12級。

  大理石校驗平臺基本技術(shù)要求

  大理石平臺工作原理：在檢測中一般用作基準(zhǔn)定位面，工作面作為檢測和劃線的平面基準(zhǔn)，用此基準(zhǔn)平面與被測工件的實際表面進(jìn)行比較，從而確定誤差值。

  大理石平臺種類：大理石檢驗平臺，大理石平臺工作臺，大理石測量平臺，大理石檢測平臺，大理石T型槽平臺，大理石圓平臺，大理石三座標(biāo)平臺，大理石校正平臺。