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激光橢圓偏振測厚儀 型號:TP-Y-I 金洋萬達
儀器介紹：
橢圓偏振測厚儀采用消光法手動調節，自動測量薄膜厚度和折射率，精度高、靈敏度高、方便測量。光源采用氦氖激光器，功率穩定、波長精度高。儀器軟件具有生成表、查表以及計算等功能，方便用戶使用。
技術參數：
| 測量范圍 | 薄膜厚度范圍：1nm-300nm；折射率范圍：1-10 |
| 測量厚度示值（nm） | ≤1 |
| 偏振器方位角范圍 | 0°- 180°讀取分辨率為0.05° |
| 測量膜厚精度（nm） | ±1 |
| 折射率重復性精度 | ±0.01 |
| 入射角調節范圍 | 20°～90°精度為0.05° |
| 入射光波長（nm） | 632.8 |
| 光學中心高（mm） | 80 |
| 允許樣品尺寸（mm） | φ10-φ140，厚度≤15 |
| 外形尺寸（mm） | 590*390*290 |
| 主機重量（kg） | 25 |
配置清單：
橢圓偏振測厚儀主機 1臺
主機電控箱 1套
二氧化硅膜樣片 1片
橢圓偏振測厚儀軟件 1套
選配：計算機及打印機 1套
公司承諾：質量服務承諾：
1.質保期一年，終生免費維護。
2.在質保期內，除人為因素外，任何因儀器設計、材料或工藝不當引起的缺陷、故障我們免費修理或更換。
3.接到用戶通知所提供的儀器出現故障后，十分鐘內回應.
4.保證及時向用戶以優惠的價格提供所需的備品備件和易
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