德國菲希爾X射線分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD 返回列表頁

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

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FISCHERSCOPE®X-RAY XDV-SDD系列是Fischer的高級產品線之一。 它配備了具有高能量分辨率的硅漂移檢測器。 結合大口徑，XDV-SDD系列可實現出色的測量結果。 大型，易于接近的測量室使其既適用于組件上的fl的測量，也適用于幾何形狀復雜的大型樣品。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD是Fischer強大的X射線設備之一。它的硅漂移檢測器對輕元素的X射線輻射很敏感。這允許非常低的檢測限以及與NiP，RoHS和非常?。?0.05 µm）的薄膜有關的測量應用。這就是XDV -SDD在研發，實驗室和過程認證設置中表現出色的原因。另外，它的易用性使其在生產控制中很重要。

NiP / Fe：P濃度和層厚

鈍化層：Cr / Zn / Fe

XDV-SDD系統特別適合于痕量分析和污染物限值的快速監控。例如，在塑料中，它可以用來檢測關鍵化學元素，例如Pb，Hg和Cd，其檢測限僅為幾ppm。

特點：

● 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量很薄的鍍層
● 很耐用的設計結構，能以非常出色的長期穩定性用于連續測量
● 可編程XY平臺和Z軸，用于自動化連續測量
● 擁有實時的視頻顯示和輔助激光點，使得樣品定位變得快速而簡便

應用 鍍層厚度測量 ? 測量非常薄鍍層，如電子和半導體產業中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層 ? 測量汽車制造業中的硬質涂層 ? 光伏產業中的鍍層厚度測量

材料分析 ? 電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質（如重金屬）進行鑒別 ? 分析黃金和其他貴金屬及其合金 ? 測定功能性鍍層的組分，如NiP鍍層中的P含量