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蘇州西博三維科技有限公司

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XTOM——三維光學面掃描系統

閱讀：474發布時間：2017-9-7

XTOM——三維光學面掃描系統

XTOM——三維光學面掃描系統

XTOM三維面掃描系統基于雙目立體視覺原理，采用的外差式多頻相移三維光學測量技術，測量精度、測量速度等性能都達到*水平，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度高，抗*力強、受被測工件表面明暗影響小，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。廣泛適用于各種需求三維數據的行業，如汽車工業、飛機工業、摩托車外殼及內飾、家電、雕塑等。

應用范圍

逆向設計：快速獲取零部件的表面點云數據，建立三維數模，從而達到產品快速設計的目的。
產品檢測：生產線產品質量控制和形位尺寸檢測，特別適合復雜曲面的檢測，可以檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等產品。
其他應用：文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、整容及上頜面手術。

功能特色

掃描預覽，實時跟蹤標志點
針對不同幅面的標定板，靈活的相機標定
掃描結果三維顯示，靈活的三維顯示控制
坐標轉換功能
具備光學探針功能
321坐標轉換功能
具備點距測量功能
具備多種后處理功能，包括點云匹配、重疊面自動融合等
具備多種元素擬合功能：點、線、面、球、圓柱、圓錐等
具備多種偏差分析功能：點偏差、距離偏差、角度偏差等

　規格型號


產品型號	TOPSCAN-TC 單目型	TOPSCAN-MIC 教育型	TOPSCAN-EDU 教育四目	TOPSCAN-ET 工業型
相機像素	1×1300000 ~2000000	2×1300000 ~2000000	4×1300000~2000000	2×1300000 ~4000000
掃描范圍	128×96mm 400×300mm	32×24mm 64×48mm 128×96mm	128×96mm 400×300mm	128×96mm 400×300mm 800×600mm
測量精度	0.02 ~0.04mm	0.008~0.015mm	0.03~0.05mm	0.015~0.03mm
采樣點距	0.15 mm~0.3mm	0.08~0.15mm	0.12~0.25mm	0.10~0.25mm
掃描方式	非接觸式掃描
輸出格式	ASC，STL、PLY
掃描時間	3~5S
拼接方式	標志點全自動拼接，手動選點拼接

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