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真空衰減法是一種無(wú)損、定量的檢測(cè)非多孔、剛性或柔性包裝泄漏的方法。具有多孔成分的包裝，例如具有多孔蓋材料的托盤(pán)，也可以通過(guò)掩蔽多孔包裝成分的真空衰減來(lái)測(cè)試。
為了進(jìn)行測(cè)試，首先將測(cè)試樣品放置在與泄漏測(cè)試系統(tǒng)氣動(dòng)連接的緊密配合的排放測(cè)試室中，泄漏測(cè)試系統(tǒng)配備有外部真空源。測(cè)試室必須設(shè)計(jì)成包含測(cè)試包。帶有可移動(dòng)或柔性部件的測(cè)試樣品需要適當(dāng)?shù)墓ぞ邅?lái)分別限制這些部件的移動(dòng)或膨脹。具有多孔組分的樣品需要掩蔽多孔材料。在測(cè)試開(kāi)始時(shí)，將測(cè)試室加上測(cè)試系統(tǒng)死區(qū)排空一段預(yù)定的時(shí)間。
測(cè)試所選擇的目標(biāo)真空度是根據(jù)評(píng)估的測(cè)試樣本類(lèi)型預(yù)先確定的。然后將真空源與測(cè)試系統(tǒng)隔離。
在短暫系統(tǒng)平衡之后，使用絕對(duì)或差壓傳感器在預(yù)定的時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)監(jiān)測(cè)腔體內(nèi)壓力的上升(即，真空衰減)。超過(guò)使用負(fù)控制建立的預(yù)定通過(guò)/失效極限的壓力增加表明容器泄漏。可參考ASTM F2338。
應(yīng)用
1. 可測(cè)試無(wú)孔、剛性或柔性包裝，或具有多孔部件的包裝。
2. 可以測(cè)試包含氣體、液體和/或固體材料的包裝：當(dāng)暴露于測(cè)試真空條件時(shí)，具有非固定部件的柔性包裝或包裝需要工具來(lái)分別限制包裝的膨脹或移動(dòng)。工具化使柔性封裝密封應(yīng)力最小化，并保持在泄漏路徑上的一致的封裝體積和壓差條件。
3. 帶有多孔成分的包裝可以通過(guò)使用特殊工具或阻塞輔助物來(lái)掩蔽多孔成分來(lái)測(cè)試，以使穿過(guò)多孔成分的氣流最小化。氣體頂空必須在大氣壓下或在顯著大于測(cè)試真空條件的壓力下。
如果產(chǎn)品具有不阻擋泄漏點(diǎn)氣流的固體配方，或者它是在測(cè)試真空下?lián)]發(fā)的液體產(chǎn)品，則可以測(cè)試產(chǎn)品填充水平以下的包裝表面是否有泄漏。包裝的體積從幾毫升到幾升可以測(cè)試。測(cè)試需要從幾秒鐘到幾分鐘的時(shí)間。較長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間對(duì)于測(cè)試更大容量的包是必要的。延長(zhǎng)測(cè)試周期以允許檢測(cè)較小的泄漏。測(cè)試可以在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中進(jìn)行，或者在生產(chǎn)環(huán)境中離線進(jìn)行。允許較長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間的實(shí)驗(yàn)室或離線測(cè)試設(shè)備通常能夠檢測(cè)較小的泄漏。更高速度的在線設(shè)備通常用于檢測(cè)較大的泄漏。真空衰減泄漏測(cè)試在產(chǎn)品生命周期的各個(gè)階段都是有用的。
測(cè)試系統(tǒng)
真空衰減泄漏測(cè)試儀器由管道和閥門(mén)系統(tǒng)組成，這些管道和閥門(mén)將測(cè)試室與測(cè)試系統(tǒng)壓力傳感器和外部真空源氣動(dòng)連接。該儀器包括適當(dāng)?shù)亩〞r(shí)器，電子控制和監(jiān)視器。還可以包括外部氣體流量計(jì)，用于周期性驗(yàn)證系統(tǒng)性能。測(cè)試室設(shè)計(jì)得，能夠緊密地容納測(cè)試封裝，并且可以適當(dāng)?shù)匮b配有工具以限制可移動(dòng)或柔性封裝組件的移動(dòng)或膨脹。
注：源自于USP1207
