SurPASS固體表面 Zeta 電位分析儀-Zeta電位儀 返回列表頁(yè)

SurPASS固體表面 Zeta 電位分析儀

在表面分析中，固體表面 Zeta電位分析儀SurPASS 3基于流動(dòng)電勢(shì)和流動(dòng)電流測(cè)量法，從而研究宏觀固體表面 Zeta電位。 它可以提供有關(guān)表面電荷和相關(guān)性質(zhì)的信息，并可檢測(cè)表面性質(zhì)中微小的變化。

SurPASS固體表面 Zeta 電位分析儀

Zeta電位：
范圍：所用測(cè)量原理決定沒(méi)有限制

再現(xiàn)性：+/-0.5 mV

等電點(diǎn)：
再現(xiàn)性：+/-0.1 pH

平板固體：
小 35 mm x 15 mm，厚度<20 mm，
20 mm x 10 mm，厚度<2 mm，
直徑為 14 mm 或 15 mm 的圓片

纖維：
少重量 100 mg

粉末：
小粒徑 25 μm

膜和過(guò)濾材料
生物材料
半導(dǎo)體工業(yè)
纖維、織物和無(wú)紡布
化妝品和洗滌劑
礦物

針對(duì)各種形狀的固體
各種不同的測(cè)量池適用于天然的和人造的纖維和織物、顆粒樣品、粗顆粒和平板樣品。

突破極限-流動(dòng)奧妙
快速測(cè)量：
Zeta電位測(cè)量少于2分鐘
表面Zeta電位直接分析：
適用于實(shí)際樣品，無(wú)需使用示蹤顆粒